Grundlagen und Anwendung der Röntgen-Feinstrunktur-Analyse
by
 
Neff, Hans.

Title
: 
Grundlagen und Anwendung der Röntgen-Feinstrunktur-Analyse

Author
: 
Neff, Hans.

ISBN
: 
9780471493693

Edition
: 
2. Aufl.

Publication Information
: 
München : Oldenbourg, 1962.

Physical Description
: 
460 s.

Subject Term
: 
X-IŞIINI KRİSTALOGRAFİSİ.
 
X-IŞINLARI -- IŞIK KIRILMASI.


LibraryMaterial TypeItem BarcodeShelf Number[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Status
Beytepe LibraryBook7.2/12/580913QC 482.D5 N43 1962Beytepe Genel Koleksiyon