Arama Sonuçları Integrated circuits--Testing. - Daraltılmış: English

Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Goel, Sandeep K, editor of compilation. Chakrabarty, Krishnendu, editor of compilation.
Yer Numarası TK7871.99 .M44 T43 2014
Elektronik Erişim Click here to view.
Format: Kitap
Durum Çevrimiçi Kütüphane~1

GaN power devices for efficient power conversion

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Lidow, Alex, author.
Yer Numarası TK7871.95 .L53 2025
Elektronik Erişim https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394286980
Format: Elektrnik Kaynak
Durum Çevrimiçi Kütüphane~1

Flexible electronic packaging and encapsulation technology

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Meng, Hong, editor. Huang, Wei, editor.
Yer Numarası TK7870.15 .F54 2024
Elektronik Erişim https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9783527845729
Format: Elektrnik Kaynak
Durum Çevrimiçi Kütüphane~1

Practical ESD protection design

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Wang, Albert Z. H., 1962- author.
Yer Numarası TK7874
Elektronik Erişim https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119850434
Format: Elektrnik Kaynak
Durum Çevrimiçi Kütüphane~1

Semiconductor basics : a qualitative, non-mathematical explanation of how semiconductors work and how they are used

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Domingo, George, 1937- author.
Yer Numarası TK7871.85 .D66 2020
Elektronik Erişim https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119597124
Format: Elektrnik Kaynak
Durum Çevrimiçi Kütüphane~1

Handbook of 3D integration. Volume 4, Design, test, and thermal management

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Franzon, Paul D., editor. Marinissen, Eric Jan, editor. Bakir, Muhannad S., editor.
Yer Numarası TK7874.893 .H36 2019
Elektronik Erişim https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9783527697052
Format: Elektrnik Kaynak
Durum Çevrimiçi Kütüphane~1

Electronics, power electronics, optoelectronics, microwaves, electromagnetics, and radar

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Dorf, Richard C., author Dorf, Richard C., editor.
Yer Numarası TK145
Elektronik Erişim Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781315222158 OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: Elektrnik Kaynak
Durum Çevrimiçi Kütüphane~1

Nanoelectronics : materials, devices, applications

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Puers, R., editor.
Yer Numarası TK7874.84
Elektronik Erişim https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9783527800728
Format: Elektrnik Kaynak
Durum Çevrimiçi Kütüphane~1

Design of 3D integrated circuits and systems

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Sharma, Rohit, editor.
Yer Numarası TK7874.893 .D48 2014
Elektronik Erişim Click here to view.
Format: Kitap
Durum Çevrimiçi Kütüphane~1

3D IC stacking technology

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Wu, Banqiu. Kumar, Ajay. Ramaswami, Sesh.
Yer Numarası ONLINE
Elektronik Erişim Subscription required
Format: Elektrnik Kaynak
Durum Çevrimiçi Kütüphane~1

ESD failure mechanisms and models

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Voldman, Steven H. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası ONLINE
Elektronik Erişim John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470747254 http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10317806
Format: Elektrnik Kaynak
Durum Çevrimiçi Kütüphane~1

Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits The system on chip approach

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Yichuang Sun, ed.
Yer Numarası ONLINE
Elektronik Erişim http://dx.doi.org/10.1049/PBCS019E
Format: Elektrnik Kaynak
Durum Çevrimiçi Kütüphane~1

System-on-chip test architectures nanometer design for testability

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Wang, Laung-Terng. Stroud, Charles E. Touba, Nur A.
Yer Numarası ONLINE
Elektronik Erişim ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123739735
Format: Elektrnik Kaynak
Durum Çevrimiçi Kütüphane~1

Digital design and fabrication

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Oklobdzija, Vojin G.
Yer Numarası TK7885 .D54 2008
Elektronik Erişim Click here to view.
Format: Kitap
Durum Çevrimiçi Kütüphane~1

The VLSI handbook

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Chen, Wai-Kai, 1936-
Yer Numarası TK7874.75 .V573 2007
Elektronik Erişim Click here to view.
Format: Kitap
Durum Çevrimiçi Kütüphane~1

Digital integrated circuits : design-for-test using Simulink and Stateflow

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Perelroyzen, Evgeni.
Yer Numarası TK7874 .P445 2007
Format: Kitap
Durum Beytepe Kütüphanesi~1

VLSI test principles and architectures design for testability

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Wang, Laung-Terng. Wu, Cheng-Wen, EE Ph. D. Wen, Xiaoqing.
Yer Numarası ONLINE
Elektronik Erişim ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123705976
Format: Elektrnik Kaynak
Durum Çevrimiçi Kütüphane~1

Embedded systems handbook

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Zurawski, Richard.
Yer Numarası TK7895 .E42 E64 2006
Elektronik Erişim Click here to view.
Format: Kitap
Durum Çevrimiçi Kütüphane~1

Microelectronics

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Whitaker, Jerry C.
Yer Numarası TK7874 .M4587 2006
Elektronik Erişim Click here to view.
Format: Kitap
Durum Çevrimiçi Kütüphane~1

The Computer Engineering Handbook.

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Oklobdzija, Vojin G., author. CRC Press LLC.
Yer Numarası TK7885 .C645 2002
Elektronik Erişim Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781420041545 OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: Elektrnik Kaynak
Durum Çevrimiçi Kütüphane~1

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- Agrawal, Vishwani D., 1943-
Yer Numarası TK7874.75 B87 2000
Format: Kitap
Durum Beytepe Kütüphanesi~1

VLSI Testing Digital and mixed analogue/digital techniques

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Hurst, Stanley L.
Yer Numarası ONLINE
Elektronik Erişim http://dx.doi.org/10.1049/PBCS009E
Format: Elektrnik Kaynak
Durum Çevrimiçi Kütüphane~1

Low-power HF Microelectronics A unified approach

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Machado, Gerson A. S., ed.
Yer Numarası ONLINE
Elektronik Erişim http://dx.doi.org/10.1049/PBCS008E
Format: Elektrnik Kaynak
Durum Çevrimiçi Kütüphane~1

Principles of semiconductor network testing

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Afshar, Amir.
Yer Numarası ONLINE
Elektronik Erişim ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750694728
Format: Elektrnik Kaynak
Durum Çevrimiçi Kütüphane~1

Algorithmic and Knowledge-based CAD for VLSI

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Taylor, Gaynor, ed. Russell, Gordon, ed.
Yer Numarası ONLINE
Elektronik Erişim http://dx.doi.org/10.1049/PBCS004E
Format: Elektrnik Kaynak
Durum Çevrimiçi Kütüphane~1

Digital circuit testing a guide to DFT and other techniques

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Wang, Francis C.
Yer Numarası ONLINE
Elektronik Erişim ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780127345802
Format: Elektrnik Kaynak
Durum Çevrimiçi Kütüphane~1

Electronics reliability and measurement technology nondestructive evaluation

2026-02-09T10:34:48Z

Yazar Heyman, Joseph S.
Yer Numarası ONLINE
Elektronik Erişim ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780815511717
Format: Elektrnik Kaynak
Durum Çevrimiçi Kütüphane~1