Arama Sonuçları Test.SirsiDynix Enterprisehttps://katalog.hacettepe.edu.tr/client/tr_TR/default_tr/default_tr/qu$003dTest.$0026te$003dILS$0026ps$003d300?dt=list2024-12-26T10:34:20ZTest validityent://SD_ILS/0/SD_ILS:2684272024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Wainer, Howard. Braun, Henry I., 1949-<br/>Yer Numarası LB3060.7 T47 1988<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Test theoryent://SD_ILS/0/SD_ILS:17372024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Magnusson, David.<br/>Yer Numarası BF 39 M2753 1967<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Test scoringent://SD_ILS/0/SD_ILS:1092732024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Thissen, David, ed. Wainer, Howard, ed.<br/>Yer Numarası LB3060.77 .T47 2001<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>The testent://SD_ILS/0/SD_ILS:353352024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Adams, Walter, 1922-<br/>Yer Numarası LD 3248.M5 A83 1971<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Görkem Testent://SD_ILS/0/SD_ILS:4812912024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Görkem Sönmez Deneme<br/>Yer Numarası XX(481291.1)<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~2<br/>Yazılım test rehberient://SD_ILS/0/SD_ILS:5143582024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Bozkurt, Asiye Çüçen, Adem, author Adıgüzel, Ahmet, author<br/>Yer Numarası QA76.76.T48 B69 2022<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Yazılım test rehberient://SD_ILS/0/SD_ILS:3793452024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Bozkurt, Asiye Çüçen, Adem, author Adıgüzel, Ahmet, author<br/>Yer Numarası QA76.76.T48 B69 2016<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Rorschach's testent://SD_ILS/0/SD_ILS:17872024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Beck, Samuel Jacob, 1896-<br/>Yer Numarası BF 431 B3887 1945-61 V.1<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~3<br/>Situational judgement testent://SD_ILS/0/SD_ILS:5123852024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Metcalfe, David (Physician), author. Dev, Harveer, author.<br/>Yer Numarası R834.5<br/>Elektronik Erişim Oxford scholarship online <a href="https://dx.doi.org/10.1093/oso/9780198805809.001.0001">https://dx.doi.org/10.1093/oso/9780198805809.001.0001</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>The paternity testent://SD_ILS/0/SD_ILS:2419382024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Lowenthal, Michael. Project Muse.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://muse.jhu.edu/books/9780299290030/">Full text available: </a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>The Perfect Testent://SD_ILS/0/SD_ILS:2068082024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Dietel, Ron. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-94-6091-478-2">http://dx.doi.org/10.1007/978-94-6091-478-2</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Aquifer test modelingent://SD_ILS/0/SD_ILS:2895492024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Walton, William Clarence.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://marc.crcnetbase.com/isbn/9781420042931">Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>The pap testent://SD_ILS/0/SD_ILS:1147702024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar DeMay, Richard M.<br/>Yer Numarası WP 17 D373 2005<br/>Format: Kitap<br/>Durum Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1<br/>1998 test catalogent://SD_ILS/0/SD_ILS:818732024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Mayo Medical Laboratories.<br/>Yer Numarası W 24 M473 1997<br/>Format: Kitap<br/>Durum Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1<br/>Constructing test itemsent://SD_ILS/0/SD_ILS:350952024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Osterlind, Steven J.<br/>Yer Numarası LB 3060.65 O77 1989<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Test hazırlama kılavuzuent://SD_ILS/0/SD_ILS:519002024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Özçelik, Durmuş Ali<br/>Yer Numarası LB 3051 O9 1981 1.K<br/>Format: Kitap<br/>Durum Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1<br/>Test hazırlama kılavuzuent://SD_ILS/0/SD_ILS:350892024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Özçelik, Durmuş Ali.<br/>Yer Numarası LB 3051 O1 1981 T<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Best test designent://SD_ILS/0/SD_ILS:350962024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Wright, Benjamin Drake, 1936- Stone, Mark H.<br/>Yer Numarası LB 3060.65 W74 1979<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Classroom test constructionent://SD_ILS/0/SD_ILS:350782024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Marshall, Jon Clark, 1940- Hales, Loyde Wesley.,ort yaz.<br/>Yer Numarası LB 3051 M455 1971<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Meeting the testent://SD_ILS/0/SD_ILS:518502024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Anderson, Scarvia B. Katz, M., ort. yaz. Shimberg, B., ort. yaz.<br/>Yer Numarası LB 2353 A23 1963<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Laboratory test handbookent://SD_ILS/0/SD_ILS:972062024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Jacobs, David S., ort.yaz.<br/>Yer Numarası QY 39 L1223 1994<br/>Format: Kitap<br/>Durum Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1<br/>Test of the twinsent://SD_ILS/0/SD_ILS:3874222024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Weis, Margaret. Hickman, Tracy.<br/>Yer Numarası PS3573.E37 T418 2000<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Sınıfta test nasıl yapılırent://SD_ILS/0/SD_ILS:738802024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Weitzman, Ellis. Mc.Namara, Walter J.,yazl. Pars, Vedide Baha.,çev.<br/>Yer Numarası LB 3051 W1 1969<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Türkisch-Artikulations-Test (TAT)ent://SD_ILS/0/SD_ILS:1907452024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Nas, Vasfi. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-03812-9">http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-03812-9</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Bilimsel zekanızı test edinent://SD_ILS/0/SD_ILS:1011682024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Cazeau, Charles J. Düz, Orhan, çev.<br/>Yer Numarası Q 173 .C39 2004<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Senior fitness test manualent://SD_ILS/0/SD_ILS:775482024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Rikli, Roberta E. Jones, C. Jessie.<br/>Yer Numarası RA 781 R54 2001<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>The Wintage Anaerobic Testent://SD_ILS/0/SD_ILS:589792024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Inbar, Omri, 1943- Bar-Or, Oded, ort. yaz. Skinner, James S., 1936- ort. yaz.<br/>Yer Numarası QP 303 I46 1996<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Basic electronic test proceduresent://SD_ILS/0/SD_ILS:588762024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Gottlieb, Irving M.<br/>Yer Numarası TK 7878 G67 1973<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Handbook of test developmentent://SD_ILS/0/SD_ILS:1093362024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Downing, Steven M., ed. Haladyna, Thomas M., ed.<br/>Yer Numarası LB3051 H31987 2006<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~2<br/>Drug-test interactions handbooksent://SD_ILS/0/SD_ILS:513242024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Salway, J. G., ed.<br/>Yer Numarası REF/QV 38 D794<br/>Format: Kitap<br/>Durum Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1<br/>Microwave test & measurement techniquesent://SD_ILS/0/SD_ILS:591432024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Lytel, Allan Herbet, 1920-<br/>Yer Numarası TK 7882.M38 L9 1964<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Nurses! test yourself in anatomy & physiologyent://SD_ILS/0/SD_ILS:2787132024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Rogers, Katherine. Scott, William.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim EBSCOhost <a href="http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=369031">http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=369031</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Nurses! test yourself in pathophysiologyent://SD_ILS/0/SD_ILS:2785562024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Rogers, Katherine M. A. Scott, William N.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim EBSCOhost <a href="http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=382478">http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=382478</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Cambridge preparation for the TOEFL testent://SD_ILS/0/SD_ILS:5169332024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Gear, Jolene. Gear, Robert.<br/>Yer Numarası PE1128 G35 2006<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Building a successful board-test strategyent://SD_ILS/0/SD_ILS:1538072024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Scheiber, Stephen F.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim ScienceDirect <a href="http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750672801">http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750672801</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Studying a study & testing a testent://SD_ILS/0/SD_ILS:3214062024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Riegelman, Richard K. Riegelman, Richard K. Studying a study and testing a test. Ovid Technologies, Inc.<br/>Yer Numarası ONLINE(321406.1)<br/>Elektronik Erişim <a href="http://ovidsp.ovid.com/ovidweb.cgi?T=JS&PAGE=booktext&NEWS=N&DF=bookdb&AN=01787340/6th_Edition&XPATH=/PG(0)">Authentication may be required:</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>IEEE Design and test of computers.ent://SD_ILS/0/SD_ILS:2267752024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYer Numarası ALFABETİK V.1 1984<br/>Format: Devam Eden Süreli Yayınlar Diğer<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~11 ~0<br/>Language test construction and evaluationent://SD_ILS/0/SD_ILS:844742024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Alderson, J. Charles. Clapham, Caroline, ort. yaz. Wall, Dianne, ort. yaz.<br/>Yer Numarası P 53.4 A43 1995<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Test dışı teknikler : psikoloji setient://SD_ILS/0/SD_ILS:5140142024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Yapıcı, Mehmet. Şahin, Ertuğrul.<br/>Yer Numarası BF121 T478 2022<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Yazılım test mühendisinin el kitabıent://SD_ILS/0/SD_ILS:5143502024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Gürbüz, Ali.<br/>Yer Numarası QA76.758 G87 2022<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Vergi hukuku uygulamaları : (olaylar, test soruları)ent://SD_ILS/0/SD_ILS:5165912024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Bilici, Nurettin. Dilemre Öden, Begüm .<br/>Yer Numarası KKX3550 B555 2021<br/>Format: Kitap<br/>Durum Hukuk Kütüphanesi~1<br/>Bireyi tanımada test dışı tekniklerent://SD_ILS/0/SD_ILS:4792032024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Karataş, Zeynep. Yavuzer, Yasemin.<br/>Yer Numarası BF121 K37 2020<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Yazılım test mühendisinin el kitabıent://SD_ILS/0/SD_ILS:4795392024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Gürbüz, Ali.<br/>Yer Numarası QA76.758 G87 2020<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>High-Voltage Test and Measuring Techniquesent://SD_ILS/0/SD_ILS:4853322024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Hauschild, Wolfgang. author. Lemke, Eberhard. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="https://doi.org/10.1007/978-3-319-97460-6">https://doi.org/10.1007/978-3-319-97460-6</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Cutaneous Cytology and Tzanck Smear Testent://SD_ILS/0/SD_ILS:4844962024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Durdu, Murat. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="https://doi.org/10.1007/978-3-030-10722-2">https://doi.org/10.1007/978-3-030-10722-2</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Bireyi tanımada test dışı tekniklerent://SD_ILS/0/SD_ILS:3410042024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Karataş, Zeynep.<br/>Yer Numarası BF121 K37 2015<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>High-Voltage Test and Measuring Techniquesent://SD_ILS/0/SD_ILS:4881032024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Hauschild, Wolfgang. author. Lemke, Eberhard. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="https://doi.org/10.1007/978-3-642-45352-6">https://doi.org/10.1007/978-3-642-45352-6</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Automatic Generation of Combinatorial Test Dataent://SD_ILS/0/SD_ILS:4893132024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Zhang, Jian. author. Zhang, Zhiqiang. author. Ma, Feifei. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="https://doi.org/10.1007/978-3-662-43429-1">https://doi.org/10.1007/978-3-662-43429-1</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>How to Reliably Test for GMOsent://SD_ILS/0/SD_ILS:1739272024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Žel, Jana. author. Milavec, Mojca. author. Morisset, Dany. author. Plan, Damien. author. Van den Eede, Guy. author.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1390-5">http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1390-5</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Microelectronic Test Structures for CMOS Technologyent://SD_ILS/0/SD_ILS:1731932024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Bhushan, Manjul. author. Ketchen, Mark B. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9377-9">http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9377-9</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Usability testing essentials ready, set-- testent://SD_ILS/0/SD_ILS:1469122024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Barnum, Carol M.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim ScienceDirect <a href="http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123750921">http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123750921</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>VMware certified professional test prepent://SD_ILS/0/SD_ILS:2896732024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Ilgenfritz, Merle. Ilgenfritz, John. Powell, John Wesley, 1834-1902 Baca, Steven.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://marc.crcnetbase.com/isbn/9781420066005">Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Statistical theories of mental test scoresent://SD_ILS/0/SD_ILS:2684562024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Lord, Frederic M. Novick, Melvin R. Birnbaum, Allan.<br/>Yer Numarası BF431 L59 2008<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Fundamentals of Pap Test Cytologyent://SD_ILS/0/SD_ILS:1747032024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Hoda, Rana S. author. Hoda, Syed A. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-1-59745-276-2">http://dx.doi.org/10.1007/978-1-59745-276-2</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Test und Verlässlichkeit von Rechnernent://SD_ILS/0/SD_ILS:1862602024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Kemnitz, Günter. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-71355-5">http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-71355-5</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Test and Analysis of Web Servicesent://SD_ILS/0/SD_ILS:1866862024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Baresi, Luciano. editor. Nitto, Elisabetta Di. editor. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-72912-9">http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-72912-9</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniquesent://SD_ILS/0/SD_ILS:1752902024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Grout, Ian A. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-173-3">http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-173-3</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Linear Models for Optimal Test Designent://SD_ILS/0/SD_ILS:1655992024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Linden, Wim J. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29054-0">http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29054-0</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>The Kernel method of test equatingent://SD_ILS/0/SD_ILS:1441742024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Davier, Alina A. von. Holland, Paul W. Thayer, Dorothy T.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim EBSCOhost <a href="http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=107930">http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=107930</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>MCAT success 2004 : test prepent://SD_ILS/0/SD_ILS:1111922024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Bosworth, Stefan.<br/>Yer Numarası W 18.2 M4768 2004<br/>Format: Kitap<br/>Durum Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~2<br/>Defining Shakespeare Pericles as test caseent://SD_ILS/0/SD_ILS:2318822024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Jackson, MacDonald P. (MacDonald Pairman)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim Oxford scholarship online <a href="http://dx.doi.org/10.1093/acprof:oso/9780199260508.001.0001">http://dx.doi.org/10.1093/acprof:oso/9780199260508.001.0001</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Demystifying mixed-signal test methodsent://SD_ILS/0/SD_ILS:2547112024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Baker, Mark.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim ScienceDirect <a href="http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750676168">http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750676168</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Test-driven development : by exampleent://SD_ILS/0/SD_ILS:1059772024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Beck, Kent.<br/>Yer Numarası QA 76.76.T48 B43 2003<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Test theory a unified treatmentent://SD_ILS/0/SD_ILS:1449762024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar McDonald, Roderick P.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://www.tandfebooks.com/isbn/9781410601087">Click here to view</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Hekimlikte biyokimya : hangi test istenmeli?ent://SD_ILS/0/SD_ILS:1117162024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Özgünen, Tuncay. Üstdal, Muzaffer.<br/>Yer Numarası QU 4 �94 1997<br/>Format: Kitap<br/>Durum Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1<br/>Resimli tanı test kitabı : Hipertansiyonent://SD_ILS/0/SD_ILS:869072024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar MacGregor, Graham.<br/>Yer Numarası WG 340 M147 1996<br/>Format: Kitap<br/>Durum Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1<br/>Vurum kod modülasyon test cihazı tasarımı.ent://SD_ILS/0/SD_ILS:274652024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Ertaş, Nazmi<br/>Yer Numarası TEZ 3137 YÜK.M. 1996<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Methods for identifying biased test itemsent://SD_ILS/0/SD_ILS:2709602024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Camilli, Gregory. Shepard, Lorrie A.<br/>Yer Numarası LB3060.62 C36 1994 V.1<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Enfeksiyon hastalıkları tanı test kitabıent://SD_ILS/0/SD_ILS:822062024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Emond, R.T.D. Rowland, H.A.K., ort. yaz.<br/>Yer Numarası WC 100 E54 1990<br/>Format: Kitap<br/>Durum Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1<br/>Handbook of mutagenicity test proceduresent://SD_ILS/0/SD_ILS:2511892024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Kilbey, B. J.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim ScienceDirect <a href="http://www.sciencedirect.com/science/book/9780444805195">http://www.sciencedirect.com/science/book/9780444805195</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Handbook of mutagenicity test proceduresent://SD_ILS/0/SD_ILS:543132024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Kılbey, B. J. ed.<br/>Yer Numarası QH 465.A1 H236 1984 1.K<br/>Format: Kitap<br/>Durum Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1<br/>Test your understanding of neurophysiologyent://SD_ILS/0/SD_ILS:507432024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Murray, R. W.<br/>Yer Numarası WL 102 M981 1983 1.K<br/>Format: Kitap<br/>Durum Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1<br/>A technology for test-item writingent://SD_ILS/0/SD_ILS:954612024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Roid, Gale H. Haladyna, Thomas M., ort. yaz.<br/>Yer Numarası LB 3060.32.C74 R64 1982<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Eidetic parents test and analysisent://SD_ILS/0/SD_ILS:575472024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Ahsen, Akhter<br/>Yer Numarası WM 145 AHS 1972 1.K<br/>Format: Kitap<br/>Durum Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1<br/>Test scores and what they meanent://SD_ILS/0/SD_ILS:350772024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Lyman, Howard Burbeck, 1920-<br/>Yer Numarası LB 3051 L989 1971<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Introduction to electromagnetic nondestructive test methodsent://SD_ILS/0/SD_ILS:471852024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Libby, Hugo L.<br/>Yer Numarası TA 417.35 L52 1971<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>The significance test controversy : a readerent://SD_ILS/0/SD_ILS:696972024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Morrison, Denton E. comp. Morrison, Denton E., ed. by. Henkel, Roman E., ed. by.<br/>Yer Numarası HA 33 M67 1970<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Statistical theories of mental test scoresent://SD_ILS/0/SD_ILS:18122024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Lord, Frederic M., 1912- Novick, Melvin R., ort. yaz. Birnbaum, Allan, ed.<br/>Yer Numarası BF 431 L59 1968<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Test scores and what they meanent://SD_ILS/0/SD_ILS:350762024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Lyman, Howard Burbeck, 1920-<br/>Yer Numarası LB 3051 L989 1963<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Social research to test adeasent://SD_ILS/0/SD_ILS:72252024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Stouffer, Samuel Andrew, 1900-<br/>Yer Numarası H 62 ST765 1962<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>McGraw-Hill's SAT subject test. Physicsent://SD_ILS/0/SD_ILS:2940242024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Caputo, Christine.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/mcgrawhills-sat-subject-test-physics">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>McGraw-Hill's SAT subject test. Literatureent://SD_ILS/0/SD_ILS:2940252024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Muntone, Stephanie.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/mcgrawhills-sat-subject-test-literature-2nd-edition">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>McGraw-Hill's SAT subject test. Chemistryent://SD_ILS/0/SD_ILS:2940262024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Evangelist, Thomas A.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/mcgrawhills-sat-subject-test-chemistry-3rd-edition">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>McGraw-Hill's MAT Miller analogies testent://SD_ILS/0/SD_ILS:2940472024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Zahler, Kathy A.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/mcgrawhills-mat-miller-analogies-test-second-edition">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>McGraw-Hill's SAT subject test. Literatureent://SD_ILS/0/SD_ILS:2940512024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Muntone, Stephanie.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/mcgrawhills-sat-subject-test-literature">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>McGraw-Hill's SAT subject test. Chemistryent://SD_ILS/0/SD_ILS:2940552024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Evangelist, Thomas A. Evangelist, Thomas A. McGraw-Hill's SAT II chemistry.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/mcgrawhills-sat-subject-test-chemistry-2ed">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Hukukun temel kavramları : örnek cevaplı test sorularıent://SD_ILS/0/SD_ILS:5231212024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Şaban Kayıhan.<br/>Yer Numarası KKX120 K39 2023<br/>Format: Kitap<br/>Durum Hukuk Kütüphanesi~1<br/>VLSI Design and Test for Systems Dependabilityent://SD_ILS/0/SD_ILS:4837112024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Asai, Shojiro. editor. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="https://doi.org/10.1007/978-4-431-56594-9">https://doi.org/10.1007/978-4-431-56594-9</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Nurses! Test Yourself In Non-Medical Prescribingent://SD_ILS/0/SD_ILS:2798342024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Harris, Noel. Shearer, Diane.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim EBSCOhost <a href="http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=524783">http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=524783</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Advanced Bayesian methods for medical test accuracyent://SD_ILS/0/SD_ILS:2756052024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Broemeling, Lyle D., 1939-<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://marc.crcnetbase.com/isbn/9781439838792">Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Test and Diagnosis for Small-Delay Defectsent://SD_ILS/0/SD_ILS:1731082024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Tehranipoor, Mohammad. author. Peng, Ke. author. Chakrabarty, Krishnendu. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-8297-1">http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-8297-1</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Engineered concrete mix design and test methodsent://SD_ILS/0/SD_ILS:2906382024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Kett, Irving.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://marc.crcnetbase.com/isbn/9781420091175">Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Design Driven Testing Test Smarter, Not Harderent://SD_ILS/0/SD_ILS:1714082024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Stephens, Matt. author. Rosenberg, Doug. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4302-2944-5">http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4302-2944-5</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Test Pattern Generation using Boolean Proof Enginesent://SD_ILS/0/SD_ILS:2047652024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Drechsler, Rolf. author. Eggersglüβ, Stephan. author. Fey, Görschwin. author. Tille, Daniel. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-2360-5">http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-2360-5</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Electronic design automation synthesis, verification, and testent://SD_ILS/0/SD_ILS:1465382024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Wang, Laung-Terng. Chang, Yao-Wen. Cheng, Kwang-Ting, 1961-<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim ScienceDirect <a href="http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123743640">http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123743640</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Statistical test theory for the behavioral sciencesent://SD_ILS/0/SD_ILS:2908792024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Gruijter, Dato N. de. Kamp, Leo J. Th. van der.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://marc.crcnetbase.com/isbn/9781584889595">Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliabilityent://SD_ILS/0/SD_ILS:1672042024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Tehranipoor, Mohammad. editor. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7">http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Longman preparation course for the TOEFL testent://SD_ILS/0/SD_ILS:1143232024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Phillips, Deborah.<br/>Yer Numarası PE1128 .P55 2007<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuitsent://SD_ILS/0/SD_ILS:1694322024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Sánchez, Gloria Huertas. author. García de la Vega, Diego Vázquez. author. Rueda, Adoración Rueda. author. Díaz, José Luis Huertas. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-5315-0">http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-5315-0</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Developing and validating multiple-choice test itemsent://SD_ILS/0/SD_ILS:976972024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Haladyna, Thomas M.<br/>Yer Numarası LB 3060.32.M85 H35 2004<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Yaşam analizinde grup ardışık test yöntemlerinin karşılaştırılmasıent://SD_ILS/0/SD_ILS:882152024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Parlak, Yaprak.<br/>Yer Numarası TEZ/6457 P24 2004<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Test de connaissance du français 250 activitésent://SD_ILS/0/SD_ILS:3407172024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Billaud, Sandrine<br/>Yer Numarası PC2128 B55 2003<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Test development : guidelines, practical suggestions and examplesent://SD_ILS/0/SD_ILS:1140932024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Miller, Patrick W. Erickson, Harley E.<br/>Yer Numarası LB3060.37 .M55 2001<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Longman introductory course for the TOEFL testent://SD_ILS/0/SD_ILS:1146122024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Phillips, Deborah, 1952-<br/>Yer Numarası PE1128 .P44 2001<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~2 Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1<br/>Engineered concrete mix design and test methodsent://SD_ILS/0/SD_ILS:2896212024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Kett, Irving.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://marc.crcnetbase.com/isbn/9781420049831">Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Expressive one-word picture vocabulary test : manualent://SD_ILS/0/SD_ILS:1011322024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Brownell, Rick, ed.<br/>Yer Numarası PE 1449 G33 2000<br/>Format: Kitap<br/>Durum Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1<br/>GRE Practicing to take the biology test.ent://SD_ILS/0/SD_ILS:368252024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Graduate Record Examinations Board.<br/>Yer Numarası QH 316 G797 1995<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~5<br/>GRE practicing to take the psychology test.ent://SD_ILS/0/SD_ILS:22602024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Graduate Record Examinations Board.<br/>Yer Numarası BF 78 G797 1994<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~3<br/>GRE practicing to take the engineering test.ent://SD_ILS/0/SD_ILS:470702024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Graduate Record Examinations.<br/>Yer Numarası TA 159 G797 1994<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~4<br/>Practicing to take the GRE mathematics test.ent://SD_ILS/0/SD_ILS:345252024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Graduate Record Examinations Board.<br/>Yer Numarası QA 43 P675 1993<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Practicing to take the GRE sociology test.ent://SD_ILS/0/SD_ILS:685412024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Graduate Record Examinations Board.<br/>Yer Numarası HM 47.U6 P73 1993<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~2<br/>Practicing to take the GRE education test.ent://SD_ILS/0/SD_ILS:685832024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Graduate Record Examinations Board.<br/>Yer Numarası LB 1762 P73 1993<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~3<br/>Mobilya endüstrisinde kalite kontrol ve test tekniklerient://SD_ILS/0/SD_ILS:751632024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Güray, Arif. Baykan, İbrahim, ort. yaz.<br/>Yer Numarası TS 880 G994 1993<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Practicing to take the GRE economics test.ent://SD_ILS/0/SD_ILS:81602024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Graduate Record Examinations Board.<br/>Yer Numarası HB 74.6 P73 1993<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~3<br/>Practicing to take the GRE music test.ent://SD_ILS/0/SD_ILS:185542024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Graduate Record Examination Board.<br/>Yer Numarası MT 9 P73 1993<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~2<br/>Madde çeşidinin test güvenirliğine ve geçerliğine etkisi.ent://SD_ILS/0/SD_ILS:251672024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Tekindal, Satılmış.<br/>Yer Numarası TEZ 2102 DR. 1992<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Practicing to take the GRE geology test.ent://SD_ILS/0/SD_ILS:348952024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Graduate Record Examination Board.<br/>Yer Numarası QE 42 P73 1992<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~3<br/>Well test analysis for fractured reservoir evaluationent://SD_ILS/0/SD_ILS:2554672024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Da Prat, Giovanni.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim ScienceDirect <a href="http://www.sciencedirect.com/science/book/9780444886910">http://www.sciencedirect.com/science/book/9780444886910</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Introduction to classical and modern test theoryent://SD_ILS/0/SD_ILS:1122772024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Crocker, Linda. Algina, James.<br/>Yer Numarası BF39 .C695 1986<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Madde yapısının test güvenirliğine ve geçerliğine etkisient://SD_ILS/0/SD_ILS:273872024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Adıgüzel, Muzaffer.<br/>Yer Numarası TEZ 774 .A45 1985<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Psychodiagnostics : a diagnostic test based on perceptionent://SD_ILS/0/SD_ILS:516062024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Rorschach, Hermann<br/>Yer Numarası WM 100 ROR 1981 1.K<br/>Format: Kitap<br/>Durum Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1<br/>Le Test du dessin d'un arbreent://SD_ILS/0/SD_ILS:21992024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Muschoot, F. Demeyer, W., ort. yaz.<br/>Yer Numarası BF 698.8.D7 M97<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>On the theory of achievement test itemsent://SD_ILS/0/SD_ILS:350622024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Bormuth, John R. Menzel, Peter.<br/>Yer Numarası LB 3051 B63 1970<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>The best test preparation and review course for the MCAT medical college admission testent://SD_ILS/0/SD_ILS:1112022024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Alvarez, Joseph A.<br/>Yer Numarası W 18.2 M4768 2001<br/>Format: Kitap<br/>Durum Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~2<br/>Systematic english tests:A-Z practice test for all examsent://SD_ILS/0/SD_ILS:3110782024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Yener, Ebru Esirgenç, Gürsedef<br/>Yer Numarası PE1112 Y39 2014<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Digital integrated circuits : design-for-test using Simulink and Stateflowent://SD_ILS/0/SD_ILS:1097242024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Perelroyzen, Evgeni.<br/>Yer Numarası TK7874 .P445 2007<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>McGraw-Hill's SSAT/ISEE Secondary School Admission Test/Independent School Entrance Examinationent://SD_ILS/0/SD_ILS:2940282024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Falletta, Nicholas. Falletta, Nicholas. McGraw-Hill's SSAT/ISEE high school entrance exams.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/mcgrawhills-ssatisee-3rd-edition">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>McGraw-Hill's SAT subject test. Biology E/Ment://SD_ILS/0/SD_ILS:2940302024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Tarasen, Nick.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/mcgrawhills-sat-subject-test-biology-em-3rd-edition">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>McGraw-Hill's SAT subject test. United States historyent://SD_ILS/0/SD_ILS:2940312024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Farabaugh, David. Muntone, Stephanie. Teti, T. R.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/mcgrawhills-sat-subject-test-united-states-history-3rd-edition">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>5 steps to a 5. 500 AP statistics questions to know by test dayent://SD_ILS/0/SD_ILS:2938232024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Phan, Jennifer. Balachandran, Divya. Walker, Jerimi Ann.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/5-steps-to-500-ap-statistics-questions-know-by-test-day">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>McGraw-Hill's 500 MCAT general chemistry questions to know by test dayent://SD_ILS/0/SD_ILS:2940122024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Moore, John T., 1947- Langley, Richard.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/mcgrawhills-500-mcat-general-chemistry-questions-to-know-by-test-day">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Mcgraw-Hill's 500 MCAT biology questions to know by test dayent://SD_ILS/0/SD_ILS:2940152024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Stewart, Robert.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/mcgrawhills-500-mcat-biology-questions-to-know-by-test-day">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Mcgraw-Hill's 500 MCAT organic chemistry questions to know by test dayent://SD_ILS/0/SD_ILS:2940162024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Moore, John T., 1947- Langley, Richard.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/mcgrawhills-500-mcat-organic-chemistry-questions-to-know-by-test-day">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>McGraw-Hill's GRE Graduate Record Examination general testent://SD_ILS/0/SD_ILS:2940202024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Dulan, Steven W. Advantage Education (Firm)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/mcgrawhills-gre-2013-edition">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>McGraw-Hill's SAT subject test. Math level 1ent://SD_ILS/0/SD_ILS:2940292024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Diehl, John. Joyce, Christine E.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/mcgrawhills-sat-subject-test-math-level-1-3rd-edition">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>5 steps to a 5. 500 AP microeconomics/macroeconomics questions to know by test dayent://SD_ILS/0/SD_ILS:2938242024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Reddington, Brian.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/5-steps-to-500-mustknow-ap-microeconomicsmacroeconomics-questions">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>5 steps to a 5. 500 AP calculus AB/BC questions to know by test dayent://SD_ILS/0/SD_ILS:2938252024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Miner, Zachary. Folwaczny, Lena.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/5-steps-to-500-ap-calculus-abbc-questions-know-by-test-day">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>5 steps to a 5. 500 AP chemistry questions to know by test dayent://SD_ILS/0/SD_ILS:2938292024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Lebitz, Mina.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/5-steps-to-500-ap-chemistry-questions-know-by-test-day">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>5 steps to a 5. 500 AP physics B & C questions to know by test dayent://SD_ILS/0/SD_ILS:2938302024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar De Richemond, Albert. Freudenrich, Craig C.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/5-steps-to-500-ap-physics-questions-know-by-test-day">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>5 steps to a 5. 500 AP U.S. government and politics questions to know by test dayent://SD_ILS/0/SD_ILS:2938312024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Madden, William.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/5-steps-to-500-ap-us-government-politics-questions-know-by-test-day">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>5 steps to a 5. 500 AP human geography questions to know by test dayent://SD_ILS/0/SD_ILS:2938322024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Flowers, Jason. Zavar, Elyse. Zimmer, Jessica.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/5-steps-to-500-ap-human-geography-questions-know-by-test-day">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>5 steps to a 5. 500 AP environmental science questions to know by test dayent://SD_ILS/0/SD_ILS:2938332024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Womack, Chris. Gardner, Jane P. Richards, Stephanie.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/5-steps-to-500-ap-environmental-science-questions-know-by-test-day">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>TABE level A test of adult basic education : the first step to lifelong successent://SD_ILS/0/SD_ILS:2940682024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Dutwin, Phyllis. Altreuter, Carol. Guglielmi, Kathy.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/mcgrawhills-tabe-level-test-adult-basic-education-first-step-to-lifelong-success">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>McGraw-Hill's SAT subject test. United States historyent://SD_ILS/0/SD_ILS:2940692024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Farabaugh, David. Muntone, Stephanie. Teti, T. R.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/mcgrawhills-sat-subject-test-united-states-history-2e">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>TABE level D test of adult basic education : the first step to lifelong successent://SD_ILS/0/SD_ILS:2940752024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Dutwin, Phyllis. Ku, Richard T. (Richard Tse-Min)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/mcgrawhills-tabe-level-d-test-adult-basic-education-first-step-to-lifelong-success">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>5 steps to a 5. 500 AP world history questions to know by test dayent://SD_ILS/0/SD_ILS:2938492024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Stevens, Adam.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/5-steps-to-500-ap-world-history-questions-know-by-test-day">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>5 steps to a 5. 500 AP U.S. history questions to know by test dayent://SD_ILS/0/SD_ILS:2938502024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Demeter, Scott E.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/5-steps-to-500-ap-us-history-questions-know-by-test-day">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>5 steps to a 5. 500 AP psychology questions to know by test dayent://SD_ILS/0/SD_ILS:2938512024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Williams, Lauren.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/5-steps-to-500-ap-psychology-questions-know-by-test-day">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>5 steps to a 5. 500 AP biology questions to know by test dayent://SD_ILS/0/SD_ILS:2938522024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Lebitz, Mina.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/5-steps-to-500-ap-biology-questions-know-by-test-day">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>McGraw-Hill's SAT subject test. Math level 2ent://SD_ILS/0/SD_ILS:2940522024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Diehl, John. Joyce, Christine E.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/mcgrawhills-sat-subject-test-math-level-2-second-edition">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>McGraw-Hill's SAT subject test. Math level 1ent://SD_ILS/0/SD_ILS:2940532024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Diehl, John. Joyce, Christine E.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/mcgrawhills-sat-subject-test-math-level-1-2e">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>McGraw-Hill's SAT subject test. Biology E/Ment://SD_ILS/0/SD_ILS:2940542024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Tarasen, Nick.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/mcgrawhills-sat-subject-test-biology-em-2e">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>5 steps to a 5. 500 AP English literature questions to know by test dayent://SD_ILS/0/SD_ILS:2938352024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Miller, Shveta Verma.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/5-steps-to-500-ap-english-literature-questions-know-by-test-day">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>5 steps to a 5. 500 AP English language questions to know by test dayent://SD_ILS/0/SD_ILS:2938362024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Ambrose, Allyson.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://mhebooklibrary.com/reader/5-steps-to-500-ap-english-language-questions-know-by-test-day">Subscription required</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Tek boncuk test cihazında kesmede etken faktörlerin incelenmesi = Investigation of efficient parameters on cutting in single bead test machineent://SD_ILS/0/SD_ILS:1105512024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Kanbir, Ediz Sadık<br/>Yer Numarası TEZ/8204 .K363 2007<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Jacobs & DeMott laboratory test handbook : with key word indexent://SD_ILS/0/SD_ILS:973732024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Jacobs, David S., ed. Oxley, Dwight K., ed. DeMott, Wayne R., ed.<br/>Yer Numarası REF/QY 39 J17 2001<br/>Format: Kitap<br/>Durum Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1<br/>Passbooks for career opportunities : maintenance development program aptitude test (USPS).ent://SD_ILS/0/SD_ILS:1120602024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYer Numarası HE6499 .P377 2006<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Flight test ınstrumantation : papers presented at the AGARD Flight Mechanics Panel, held in Montreal, Canda, 30 May-1June 1967ent://SD_ILS/0/SD_ILS:595872024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar AGARD Conferance on Flight Test Instrumantation, Montreal, 1967. Perry, Martin Arthur, ed.<br/>Yer Numarası TL 671.7 A18 1967<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~2<br/>The concept of Jacksonian democracy : New York as a test caseent://SD_ILS/0/SD_ILS:58652024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Benson, Lee.<br/>Yer Numarası F 123 B49 1961<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Structure and sentiment : a test case in social anthropologyent://SD_ILS/0/SD_ILS:718082024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Needham, Rodney.<br/>Yer Numarası GN 480 N43 1962<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approachent://SD_ILS/0/SD_ILS:5202912024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Li, Xiaowei. author. Yan, Guihai. author. Liu, Cheng. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası XX(520291.1)<br/>Elektronik Erişim <a href="https://doi.org/10.1007/978-981-19-8551-5">https://doi.org/10.1007/978-981-19-8551-5</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Software Testing Automation Testability Evaluation, Refactoring, Test Data Generation and Fault Localizationent://SD_ILS/0/SD_ILS:5203772024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Parsa, Saeed. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası XX(520377.1)<br/>Elektronik Erişim <a href="https://doi.org/10.1007/978-3-031-22057-9">https://doi.org/10.1007/978-3-031-22057-9</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Medeni hukuk pratik çalışmaları : çözülmüş problemler, çözülmemiş problemler, test soruları ve cevaplarıent://SD_ILS/0/SD_ILS:5232432024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Ünal, Mehmet.<br/>Yer Numarası KB500 M434 2023<br/>Format: Kitap<br/>Durum Hukuk Kütüphanesi~1<br/>Prenatal Diagnostic Testing for Genetic Disorders The revolution of the Non-Invasive Prenatal Testent://SD_ILS/0/SD_ILS:5218522024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Di Renzo, Gian Carlo. editor. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası XX(521852.1)<br/>Elektronik Erişim <a href="https://doi.org/10.1007/978-3-031-31758-3">https://doi.org/10.1007/978-3-031-31758-3</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>İdare hukuku pratik çalışmaları : tamamı çözümlü, pratik olay soruları, yargı kararı değerlendirme soruları, mevzuat değerlendirme soruları, doğru – yanlış önerme soruları, çoktan seçmeli test sorularıent://SD_ILS/0/SD_ILS:5173112024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Ulusoy, Ali D.<br/>Yer Numarası KKX2720 I34 2021<br/>Format: Kitap<br/>Durum Hukuk Kütüphanesi~1<br/>Psikolojik test ve değerleme : testlere ve ölçmeye girişent://SD_ILS/0/SD_ILS:5102572024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Cohen, Ronald Jay. Swerdlik, Mark E. Tavşancıl, Ezel.<br/>Yer Numarası BF176 C64 2020<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>The history of alternative test methods in toxicologyent://SD_ILS/0/SD_ILS:4603662024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Balls, Michael, 1938- editor. Combes, Robert, editor. Worth, Andrew P., editor.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim ScienceDirect <a href="https://www.sciencedirect.com/science/book/9780128136973">https://www.sciencedirect.com/science/book/9780128136973</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Design Automation Techniques for Approximation Circuits Verification, Synthesis and Testent://SD_ILS/0/SD_ILS:4864112024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Chandrasekharan, Arun. author. Große, Daniel. author. Drechsler, Rolf. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="https://doi.org/10.1007/978-3-319-98965-5">https://doi.org/10.1007/978-3-319-98965-5</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>VLSI Design and Test 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papersent://SD_ILS/0/SD_ILS:4835822024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Rajaram, S. editor. Balamurugan, N.B. editor. Gracia Nirmala Rani, D. editor. Singh, Virendra. editor. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="https://doi.org/10.1007/978-981-13-5950-7">https://doi.org/10.1007/978-981-13-5950-7</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Diagnostic Test Accuracy Studies in Dementia A Pragmatic Approachent://SD_ILS/0/SD_ILS:4844092024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Larner, A. J. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="https://doi.org/10.1007/978-3-030-17562-7">https://doi.org/10.1007/978-3-030-17562-7</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuitsent://SD_ILS/0/SD_ILS:4844152024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Jayanthy, S. author. Bhuvaneswari, M.C. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="https://doi.org/10.1007/978-981-13-2493-2">https://doi.org/10.1007/978-981-13-2493-2</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Micro-Electrode-Dot-Array Digital Microfluidic Biochips Design Automation, Optimization, and Test Techniquesent://SD_ILS/0/SD_ILS:4848842024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Li, Zipeng. author. Chakrabarty, Krishnendu. author. Ho, Tsung-Yi. author. Lee, Chen-Yi. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="https://doi.org/10.1007/978-3-030-02964-7">https://doi.org/10.1007/978-3-030-02964-7</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>VLSI Design and Test 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papersent://SD_ILS/0/SD_ILS:4866872024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Sengupta, Anirban. editor. Dasgupta, Sudeb. editor. Singh, Virendra. editor. Sharma, Rohit. editor. Kumar Vishvakarma, Santosh. editor.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="https://doi.org/10.1007/978-981-32-9767-8">https://doi.org/10.1007/978-981-32-9767-8</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>A Study Guide to the ISTQB® Foundation Level 2018 Syllabus Test Techniques and Sample Mock Examsent://SD_ILS/0/SD_ILS:3997732024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Roman, Adam. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="https://doi.org/10.1007/978-3-319-98740-8">https://doi.org/10.1007/978-3-319-98740-8</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>The Test and Launch Control Technology for Launch Vehiclesent://SD_ILS/0/SD_ILS:4007422024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Song, Zhengyu. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="https://doi.org/10.1007/978-981-10-8712-7">https://doi.org/10.1007/978-981-10-8712-7</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Long-Life Design and Test Technology of Typical Aircraft Structuresent://SD_ILS/0/SD_ILS:4011842024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Liu, Jun. author. Yue, Zhufeng. author. Geng, Xiaoliang. author. Wen, Shifeng. author. Yan, Wuzhu. author.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="https://doi.org/10.1007/978-981-10-8399-0">https://doi.org/10.1007/978-981-10-8399-0</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>The Wiley handbook of psychometric testing : a multidisciplinary reference on survey, scale and test developmentent://SD_ILS/0/SD_ILS:4241732024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Irwing, Frederick Paul, editor.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="https://doi.org/10.1002/9781118489772">Wiley Online Library</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Medeni usul hukuku : pratik çalışmalar, şematik açıklamalar, test soruları, sınav soruları, dilekçeler ve karar örneklerient://SD_ILS/0/SD_ILS:3788342024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Pekcanıtez, Hakan. Özekes, Muhammet. Akkan, Mine.<br/>Yer Numarası KKX1710 P45 2016<br/>Format: Kitap<br/>Durum Hukuk Kütüphanesi~1<br/>Eğitim, sağlık ve davranış bilimlerinde ölçek ve test geliştirme yapısal eşitlik modellemesi : IBM SPSS,IBM SPSS AMOS ve MINITAB uygulamalıent://SD_ILS/0/SD_ILS:3800362024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Özdamar, Kazım<br/>Yer Numarası HA29 O93 2016<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Bilgisayar donanımı ve bileşenleri : bilgisayarın donanımsal yapısı, bileşenlerin işlevleri, test, bakım, basit onarım ve montajı, sorun giderme metodolojisi, BT kalite standartları ve dahası...ent://SD_ILS/0/SD_ILS:5142502024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Canay, Özkan Güngörsün, Tolga, joint author<br/>Yer Numarası TK7887.5 C36 2016<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Principles and methods of test construction : standards and recent advancesent://SD_ILS/0/SD_ILS:4227692024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Schweizer, Karl. DiStefano, Christine.<br/>Yer Numarası BF176 P735 2016<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Tam kapsamlı sanal test laboratuvarı kurulumu ve uygulamalı sızma testlerient://SD_ILS/0/SD_ILS:5134672024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Yalçınkaya, Mehmet Ali, yazar. Küçüksille, Ecir Uğur, yazar.<br/>Yer Numarası TK5105.59 Y35 2015<br/>Format: Gri Yayınlar<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Diagnostic Test Accuracy Studies in Dementia A Pragmatic Approachent://SD_ILS/0/SD_ILS:5194582024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Larner, A.J. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası XX(519458.1)<br/>Elektronik Erişim <a href="https://doi.org/10.1007/978-3-319-16697-1">https://doi.org/10.1007/978-3-319-16697-1</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Simulation technologies in networking and communications : selecting the best tool for the testent://SD_ILS/0/SD_ILS:3571002024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Pathan, Al-Sakib Khan, editor. Monowar, Muhammad Mostafa, editor. Khan, Shafiullah, editor.<br/>Yer Numarası ONLINE(357100.1)<br/>Elektronik Erişim <a href="http://marc.crcnetbase.com/isbn/9781482225501">Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Eğitimde ve psikolojide ölçme : klasik test teorisi ve uygulamasıent://SD_ILS/0/SD_ILS:3804392024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Baykul, Yaşar.<br/>Yer Numarası LB3051 B39 2015<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>İdare hukuku ve idari yargılama hukuku : pratik çalışmaları ve test sorularıent://SD_ILS/0/SD_ILS:3842862024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Yıldırım, Ramazan. Boz, Selman Sacit. Gürkan, Mehmet Fatih.<br/>Yer Numarası KKX2720 Y554 2015<br/>Format: Kitap<br/>Durum Hukuk Kütüphanesi~1<br/>Bireyi tanıma teknikleri : test dışı teknikler- psikolojik testlerent://SD_ILS/0/SD_ILS:3594552024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Şahin, Cengiz.<br/>Yer Numarası LB1027.5 B57 2015<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~2 Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1<br/>Psikolojik test geliştirme ve uyarlama süreci : spss ve lisrel uygulamalarıent://SD_ILS/0/SD_ILS:3715042024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Seçer, İsmail.<br/>Yer Numarası BF176 S444 2015<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~2<br/>Place and Health as Complex Systems A Case Study and Empirical Testent://SD_ILS/0/SD_ILS:5193872024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Castellani, Brian. author. Rajaram, Rajeev. author. Buckwalter, J. Galen. author. Ball, Michael. author. Hafferty, Frederic. author.<br/>Yer Numarası XX(519387.1)<br/>Elektronik Erişim <a href="https://doi.org/10.1007/978-3-319-09734-3">https://doi.org/10.1007/978-3-319-09734-3</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>A campaign of quiet persuasion how the college board desegregated sat test centers in the deep south, 1960-1965ent://SD_ILS/0/SD_ILS:2416002024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Bates, Jan Wheeler. Project Muse.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://muse.jhu.edu/books/9780807152720/">Full text available: </a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Temel biyofizik : konu anlatımlı, problem çözümü, test sorularıent://SD_ILS/0/SD_ILS:3092572024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Günay, İsmail.<br/>Yer Numarası QH505 G86 2014 V.1<br/>Format: Kitap<br/>Durum Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1<br/>Software test attacks to break mobile and embedded devicesent://SD_ILS/0/SD_ILS:3428682024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Hagar, Jon Duncan, author.<br/>Yer Numarası ONLINE(342868.1)<br/>Elektronik Erişim <a href="http://marc.crcnetbase.com/isbn/9781466575318">Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Test and Evaluation of Aircraft Avionics and Weapon Systemsent://SD_ILS/0/SD_ILS:3649292024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar McShea, Robert E.<br/>Yer Numarası \(364929.1)<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1049/SBRA507E">http://dx.doi.org/10.1049/SBRA507E</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Pediatric success [electronic resource] : a Q&A review applying critical thinking to test taking / Beth Richardson, PhD, RN, CPNP, FAANP, Associate Professor Emeritus, Indiana University School of Nursing, Indianapolis, Indiana, Pediatric Nurse Practitioner, HealthNet, Indianapolis, Indiana.ent://SD_ILS/0/SD_ILS:3584102024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Richardson, Beth.<br/>Yer Numarası WS 21 R487 2014<br/>Format: Kitap<br/>Durum Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1<br/>Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICsent://SD_ILS/0/SD_ILS:4874052024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Noia, Brandon. author. Chakrabarty, Krishnendu. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="https://doi.org/10.1007/978-3-319-02378-6">https://doi.org/10.1007/978-3-319-02378-6</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Medeni hukuk pratik çalışmaları : çözülmüş problemler, çözülmemiş problemler, test soruları ve cevaplarıent://SD_ILS/0/SD_ILS:5172942024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Ünal, Mehmet.<br/>Yer Numarası KB500 M434 2014<br/>Format: Kitap<br/>Durum Hukuk Kütüphanesi~3<br/>Instant penetration testing setting up a test lab how-to : set up your own penetration testing lab using practical and precise recipesent://SD_ILS/0/SD_ILS:3130442024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Fadyushin, Vyacheslav.<br/>Yer Numarası ONLINE(313044.1)<br/>Elektronik Erişim Knovel <a href="http://app.knovel.com/web/toc.v/cid:kpIPTSUTL3">http://app.knovel.com/web/toc.v/cid:kpIPTSUTL3</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Non-parametric Tuning of PID Controllers A Modified Relay-Feedback-Test Approachent://SD_ILS/0/SD_ILS:3309862024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Boiko, Igor. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE(330986.1)<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4471-4465-6">http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4471-4465-6</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Choosing the Correct Radiologic Test Case-Based Teaching Filesent://SD_ILS/0/SD_ILS:3330662024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Lee, Susanna I. author. Thrall, James H. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE(333066.1)<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-15772-1">http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-15772-1</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Three Approaches to Data Analysis Test Theory, Rough Sets and Logical Analysis of Dataent://SD_ILS/0/SD_ILS:3331952024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Chikalov, Igor. author. Lozin, Vadim. author. Lozina, Irina. author. Moshkov, Mikhail. author. Nguyen, Hung Son. author.<br/>Yer Numarası ONLINE(333195.1)<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-28667-4">http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-28667-4</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Psychiatric mental health nursing success a course review applying critical thinking to test takingent://SD_ILS/0/SD_ILS:2805972024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Curtis, Cathy Melfi. Fegley, Audra Baker. Tuzo, Carol Norton.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim EBSCOhost <a href="http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=532511">http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=532511</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Design Characteristics of Virtual Learning Environments A Theoretical Integration and Empirical Test of Technology Acceptance and IS Success Researchent://SD_ILS/0/SD_ILS:3352402024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Müller, Daniel. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE(335240.1)<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-658-00392-0">http://dx.doi.org/10.1007/978-3-658-00392-0</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertaintyent://SD_ILS/0/SD_ILS:3356692024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Krishnaswamy, Smita. author. Markov, Igor L. author. Hayes, John P. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE(335669.1)<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9644-9">http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9644-9</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Families of the missing a test for contemporary approaches to transitional justiceent://SD_ILS/0/SD_ILS:3445352024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Robins, Simon.<br/>Yer Numarası ONLINE(344535.1)<br/>Elektronik Erişim <a href="http://www.tandfebooks.com/isbn/9780203517079">Click here to view</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Psikolojik test ve değerleme : testlere ve ölçmeye girişent://SD_ILS/0/SD_ILS:3610612024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Cohen, Ronald Jay. Swerdlik, Mark E. Tavşancıl, Ezel.<br/>Yer Numarası BF176 C64 2013<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>System-Level Validation High-Level Modeling and Directed Test Generation Techniquesent://SD_ILS/0/SD_ILS:3312652024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Chen, Mingsong. author. Qin, Xiaoke. author. Koo, Heon-Mo. author. Mishra, Prabhat. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE(331265.1)<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1359-2">http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1359-2</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>VLSI Design and Test 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Revised Selected Papersent://SD_ILS/0/SD_ILS:3351562024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Gaur, Manoj Singh. editor. Zwolinski, Mark. editor. Laxmi, Vijay. editor. Boolchandani, Dharmendra. editor. Sing, Virendra. editor.<br/>Yer Numarası ONLINE(335156.1)<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-42024-5">http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-42024-5</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>China Satellite Navigation Conference (CSNC) 2013 Proceedings BeiDou/GNSS Navigation Applications • Test & Assessment Technology • User Terminal Technologyent://SD_ILS/0/SD_ILS:3344202024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Sun, Jiadong. editor. Jiao, Wenhai. editor. Wu, Haitao. editor. Shi, Chuang. editor. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE(334420.1)<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-37398-5">http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-37398-5</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Qualitätssicherung durch Softwaretests Vorgehensweisen und Werkzeuge zum Test von Java-Programmenent://SD_ILS/0/SD_ILS:3383092024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Kleuker, Stephan. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE(338309.1)<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-8348-2068-6">http://dx.doi.org/10.1007/978-3-8348-2068-6</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Plants from test tubes : an introduction to micropropagationent://SD_ILS/0/SD_ILS:3589072024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Kyte, Lydiane.<br/>Yer Numarası SB123.6 K98 2013<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Progress in VLSI Design and Test 16th International Symposium, VDAT 2012, Shibpur, India, July 1-4, 2012. Proceedingsent://SD_ILS/0/SD_ILS:1970902024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Rahaman, Hafizur. editor. Chattopadhyay, Sanatan. editor. Chattopadhyay, Santanu. editor. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-31494-0">http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-31494-0</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Is There a Court for Gaza? A Test Bench for International Justiceent://SD_ILS/0/SD_ILS:2056722024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Meloni, Chantal. editor. Tognoni, Gianni. editor. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-90-6704-820-0">http://dx.doi.org/10.1007/978-90-6704-820-0</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>The Refinement of Econometric Estimation and Test Procedures Finite Sample and Asymptotic Analysisent://SD_ILS/0/SD_ILS:2370032024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Phillips, Garry D. A.. Tzavalis, Elias.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1017/CBO9780511493157">Access by subscription</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Engine testing : the design, building, modification and use of powertrain test facilitiesent://SD_ILS/0/SD_ILS:2698792024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Martyr, Anthony. Plint, M. A. (Michael Alexander)<br/>Yer Numarası TJ759 P65 2012<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Secure and resilient software requirements, test cases, and testing methodsent://SD_ILS/0/SD_ILS:2907992024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Merkow, Mark S. Raghavan, Lakshmikanth.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://marc.crcnetbase.com/isbn/9781439866221">Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Assessing neuromotor readiness for learning the INPP developmental screening test and school intervention programmeent://SD_ILS/0/SD_ILS:3054912024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Goddard, Sally, 1957- Wiley InterScience (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim Wiley InterScience <a href="http://dx.doi.org/10.1002/9781119945017">An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information</a>
Cover image <a href="http://catalogimages.wiley.com/images/db/jimages/9781119970682.jpg">http://catalogimages.wiley.com/images/db/jimages/9781119970682.jpg</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Fundamentals success a Q & A review applying critical thinking to test takingent://SD_ILS/0/SD_ILS:2803162024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Nugent, Patricia Mary, 1944- Vitale, Barbara Ann, 1944-<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim EBSCOhost <a href="http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=495469">http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=495469</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Farklı kuşak seviyelerinde taekwondo sporu yapan çocuklarda AAHPERD sağlıkla ilişkili fiziksel uygunluk test bataryasının karşılaştırılmasıent://SD_ILS/0/SD_ILS:1406682024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Ünal, Kamer.<br/>Yer Numarası TEZ WB 460 U543 2012<br/>Format: Kitap<br/>Durum Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1<br/>Sıgara içen ve içmeyen gruplarda görsel mekansal çalışma belliği testindeki performans ve sigara ile ilişkili uyaranların test performansına etkileri /cSeçil Yüzal Bayer.ent://SD_ILS/0/SD_ILS:1495692024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Bayer, Seçil Yüzal. Psikoloji Anabilim Dalı, Deneysel Psikoloji Bilim Dalı Tez.<br/>Yer Numarası TEZ 10284 B39 2012<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Problem çözme becerisinin değerlendirilmesinde puanlayıcılar arası güvenliğin klasik test kuramı ve genellenebilirlik kuramına göre karşılaştırılmalı /cSerap Büyükkıdık.ent://SD_ILS/0/SD_ILS:1496272024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Büyükkıdık, Serap. Eğitim Bilimleri Anabilim Dalı, Eğitimde Ölçme ve Değerlendirme Bilim Dalı Tez.<br/>Yer Numarası TEZ 10322 B89 2012<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Kar yönetimi tekniklerinden karın isti,krarlı gösterimlerinin Türk bankacılık sektöründe test edilmesi /cMerve Acar.ent://SD_ILS/0/SD_ILS:1498072024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Acar, Merve. İşletme Anabilim Dalı, Muhasebe ve Finans Bilim Dalı Tez.<br/>Yer Numarası TEZ 10425 A23 2012<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Öz-değerlendirmeye dayalı şans başarısı düzeltmenin test ve madde istatistiklerine etkisi /cDidem Reyhanlıoğlu.ent://SD_ILS/0/SD_ILS:1498202024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Reyhanlıoğlu, Didem. Eğitim Bilimleri Anabilim Dalı, Eğitimde Ölçme değerlendirme Bilim Dalı Tez.<br/>Yer Numarası TEZ 10435 R49 2012<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Industrial Process Identification and Control Design Step-test and Relay-experiment-based Methodsent://SD_ILS/0/SD_ILS:1686472024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Liu, Tao. author. Gao, Furong. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-977-2">http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-977-2</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCsent://SD_ILS/0/SD_ILS:1732422024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Bou-Sleiman, Sleiman. author. Ismail, Mohammed. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9548-3">http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9548-3</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiabilityent://SD_ILS/0/SD_ILS:1733602024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Eggersglüß, Stephan. author. Drechsler, Rolf. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9976-4">http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9976-4</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>An adapted wald test statistic to determine the variables which do not satisfy the proportionality assumption in the adjacent category logistic regression modelent://SD_ILS/0/SD_ILS:1406962024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Dolgun, Nimet Anıl.<br/>Yer Numarası TEZ WA 900 D659 2012<br/>Format: Kitap<br/>Durum Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1<br/>Donanım kartları testleri için örnek bir test çerçevesi oluşturulması /cSelma Çaluk Kızılırmak.ent://SD_ILS/0/SD_ILS:1506782024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Kızılırmak, Selma Çaluk. Elektrik ve Elektronik Mühendisliği Anabilim Dalı Tez.<br/>Yer Numarası TEZ 10649 K59 2012<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>İngilizce test kılavuzu = A guidebook for English tests "Practice tests for proficiency in English"ent://SD_ILS/0/SD_ILS:3702052024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Boztaş, İsmail. Aksoy, Ziya. Kocaman, Ahmet.<br/>Yer Numarası PE1498 B719 2012<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Medeni hukuk pratik çalışmaları : çözülmüş problemler, çözülmemiş problemler, test soruları ve cevaplarıent://SD_ILS/0/SD_ILS:5166312024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Ünal, Mehmet.<br/>Yer Numarası KB500 M434 2012<br/>Format: Kitap<br/>Durum Hukuk Kütüphanesi~1<br/>Accelerating Test, Validation and Debug of High Speed Serial Interfacesent://SD_ILS/0/SD_ILS:2054842024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Fan, Yongquan. author. Zilic, Zeljko. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9398-1">http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9398-1</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Passing the test combat in Korea, April-June 1951ent://SD_ILS/0/SD_ILS:2442242024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Greenwood, John T. Bowers, William T., 1946- Project Muse.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://muse.jhu.edu/books/9780813134536/">Full text available: </a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters Design, Test and Calibrationent://SD_ILS/0/SD_ILS:2055722024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Zjajo, Amir. author. Pineda de Gyvez, José. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9725-5">http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9725-5</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Detect and Deter: Can Countries Verify the Nuclear Test Ban?ent://SD_ILS/0/SD_ILS:2061392024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Dahlman, Ola. author. Mackby, Jenifer. author. Mykkeltveit, Svein. author. Haak, Hein. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-1676-6">http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-1676-6</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Med-surg success a Q&A review applying critical thinking to test takingent://SD_ILS/0/SD_ILS:2803132024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Colgrove, Kathryn Cadenhead. Hargrove-Huttel, Ray A.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim EBSCOhost <a href="http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=495462">http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=495462</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Test success test-taking techniques for beginning nursing studentsent://SD_ILS/0/SD_ILS:2803172024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Nugent, Patricia Mary, 1944- Vitale, Barbara Ann, 1944-<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim EBSCOhost <a href="http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=495470">http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=495470</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Streamline numerical well test interpretation theory and methodent://SD_ILS/0/SD_ILS:1485172024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Jun, Yao. Wu, Minglu.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim ScienceDirect <a href="http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123860279">http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123860279</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>İnci Tanelerin Kırılma Davranımlarının Belirlenebileceği Bir Test Yöntemi Geliştirilmesi = Development of a Test Method for Determination of Breakage Behavior of Fine Particlesent://SD_ILS/0/SD_ILS:1360502024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Ekşi, Deniz.<br/>Yer Numarası TEZ 9703 .E37 2011<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Statistical models for test equating, scaling, and linkingent://SD_ILS/0/SD_ILS:1446462024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Davier, Alina A. von.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim EBSCOhost <a href="http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=372637">http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=372637</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Digital System Test and Testable Design Using HDL Models and Architecturesent://SD_ILS/0/SD_ILS:1729072024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Navabi, Zainalabedin. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7548-5">http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7548-5</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>İlköğretim 7.Sınıf Öğrencilerinin Seviye Belirleme Sınavı (SBS) 2010 Fen ve Teknoloji Alt Test Başarılarına Etki Eden Bazı Faktörlerent://SD_ILS/0/SD_ILS:1395542024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Şahin, Murat Doğan.<br/>Yer Numarası TEZ 9998 .S24 2011<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Voleybol Becerileri Gözlem Formu ile Elde Edilen Puanların Genellenebilirlik ve Klasik Test Kuramına Göre Karşılaştırılmasıent://SD_ILS/0/SD_ILS:1395652024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Öztürk, Meltem Emel.<br/>Yer Numarası TEZ 10009 .O98 2011<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Test-Driven Development An Empirical Evaluation of Agile Practiceent://SD_ILS/0/SD_ILS:1908992024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Madeyski, Lech. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-04288-1">http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-04288-1</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Linksent://SD_ILS/0/SD_ILS:2050842024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Hong, Dongwoo. author. Cheng, Kwang-Ting. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-3443-4">http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-3443-4</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Test equating, scaling, and linking : methods and practicesent://SD_ILS/0/SD_ILS:2684582024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Kolen, Michael J. Brennan, Robert L.<br/>Yer Numarası LB3060.77 K65 2010<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Test and Evaluation of Aircraft Avionics and Weapons Systemsent://SD_ILS/0/SD_ILS:2480512024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar McShea, Robert E.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1049/SBRA033E">http://dx.doi.org/10.1049/SBRA033E</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Design and test technology for dependable systems-on-chipent://SD_ILS/0/SD_ILS:2780432024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Ubar, Raimund, 1941- Raik, Jaan, 1972- Vierhaus, Heinrich Theodor, 1951-<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim EBSCOhost <a href="http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=329154">http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=329154</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Test ride on the Sunnyland bus a daughter's civil rights journeyent://SD_ILS/0/SD_ILS:2463942024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Spagna, Ana Maria. Project Muse.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://muse.jhu.edu/books/9780803233928/">Full text available: </a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Umu- mikroplak test sistemi ile ilaç etken maddesi olarak tasarlanmış bileşiklerin genotoksik etkilerinin araştırılması = Investigation of genotoxic effects of compounds designed as a drug using with umu-microplate test systement://SD_ILS/0/SD_ILS:1311702024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Gökçınar, Zeynel.<br/>Yer Numarası TEZ 9489 .G65 2010<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Yapay diz eklemi için denetim ve test amaçlı mikrodenetleyici tabanlı donanım tasarımı = Microcontroller based hardware design for control and test of artificial knee jointent://SD_ILS/0/SD_ILS:1314772024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Altınöz, Ökkeş Tolga.<br/>Yer Numarası TEZ 9444 .A48 2010<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Lugeon deney sonuçlarının kaya ortamların hidrojeolojik karakterizasyonu açısından değerlendirilmesi = Asssessment of lugeon test results for hydrogeological characterization of rock mediaent://SD_ILS/0/SD_ILS:1315192024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Atıcı, Seda.<br/>Yer Numarası TEZ 9457 .A85 2010<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Allgemeinbildung in Deutschland Erkenntnisse aus dem SPIEGEL-Studentenpisa-Testent://SD_ILS/0/SD_ILS:1797132024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Verbeet, Markus. editor. Trepte, Sabine. editor. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-531-92543-1">http://dx.doi.org/10.1007/978-3-531-92543-1</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devicesent://SD_ILS/0/SD_ILS:1721002024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Girard, Patrick. editor. Nicolici, Nicola. editor. Wen, Xiaoqing. editor. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0928-2">http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0928-2</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Advanced Test Methods for SRAMs Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologiesent://SD_ILS/0/SD_ILS:1721032024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Bosio, Alberto. author. Dilillo, Luigi. author. Girard, Patrick. author. Pravossoudovitch, Serge. author. Virazel, Arnaud. author.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0938-1">http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0938-1</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Kistik fibrozis hastalarında, günlük yaşam aktiviteleri performans düzeylerinin test edilmesient://SD_ILS/0/SD_ILS:1293362024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Yatar, İlker<br/>Yer Numarası TEZ WB 460 Y101 2010<br/>Format: Kitap<br/>Durum Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1<br/>Medeni usul hukuku : pratik çalışmalar, şematik açıklamalar, test soruları, sınav soruları, dilekçeler ve karar örneklerient://SD_ILS/0/SD_ILS:1316652024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Pekcanıtez, Hakan. Özekes, Muhammet. Akkan, Mine.<br/>Yer Numarası KKX1710 .P45 2010<br/>Format: Kitap<br/>Durum Hukuk Kütüphanesi~1<br/>RF MEMS Switches and Integrated Switching Circuits Design, Fabrication, and Testent://SD_ILS/0/SD_ILS:1663332024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Liu, Ai-Qun. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-46262-2">http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-46262-2</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Intangible Impairment Qualitativer Impairment-Test für immaterielle Vermögenswerteent://SD_ILS/0/SD_ILS:2015462024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Wöhrmann, Arnt. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-8349-8448-7">http://dx.doi.org/10.1007/978-3-8349-8448-7</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Ecotoxicological Characterization of Waste Results and Experiences of an International Ring Testent://SD_ILS/0/SD_ILS:1679162024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Römbke, Jörg. editor. Moser, Heidrun. editor. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-88959-7">http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-88959-7</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Principles of CNS drug development from test tube to patientent://SD_ILS/0/SD_ILS:2981602024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Kelly, John, 1961-<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim John Wiley <a href="http://dx.doi.org/10.1002/9780470682920">http://dx.doi.org/10.1002/9780470682920</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>CliffsNotes Praxis II elementary education (0011, 0012, 0014) test prepent://SD_ILS/0/SD_ILS:3031352024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Paris, Jocelyn L., 1977- Paris, Judy L., 1950-<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://www.contentreserve.com/TitleInfo.asp?ID={D543705F-1C10-4261-A363-4F008A8C0222}&Format=50">Click for information</a>
Wiley InterScience <a href="http://dx.doi.org/10.1002/9781118266571">An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>A sound engineer's guide to audio test and measurementent://SD_ILS/0/SD_ILS:1485612024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Ballou, Glen.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim ScienceDirect <a href="http://www.sciencedirect.com/science/book/9780240812656">http://www.sciencedirect.com/science/book/9780240812656</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Kar kalitesi ve dönem karıyla gelecek dönem karları ve hisse senedi getirileri arasındaki ilişkinin İMKB'de test edilmesient://SD_ILS/0/SD_ILS:1239792024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Yel, Tülay.<br/>Yer Numarası TEZ/8823 .Y45 2009<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Dikey ölçeklemede klasik test ve madde tepki kuramına dayalı yöntemlerin karşılaştırılmasıent://SD_ILS/0/SD_ILS:1259292024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Çetin, Emre.<br/>Yer Numarası TEZ/9131 .C48 2009<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Parsing the Turing Test Philosophical and Methodological Issues in the Quest for the Thinking Computerent://SD_ILS/0/SD_ILS:1699082024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Epstein, Robert. editor. Roberts, Gary. editor. Beber, Grace. editor. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-6710-5">http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-6710-5</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Nuclear Test Ban Converting Political Visions to Realityent://SD_ILS/0/SD_ILS:1699802024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Haak, Hein. author. Mykkeltveit, S. author. Dahlman, Ola. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-6885-0">http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-6885-0</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>İşletmelerin fiyatlama yöntemlerinin incelenmesi : Fiyat endeksleri kullanılarak sektörel bazda test edilmesient://SD_ILS/0/SD_ILS:1235612024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Topuz, Yusuf Volkan.<br/>Yer Numarası TEZ/8914 .T67 2009<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Finansal ve finansal olmayan performans ölçümleri, müşteri memnuniyeti ve finansal göstergeler arasındaki ilişkinin İMKB'de test edilmesient://SD_ILS/0/SD_ILS:1243252024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Yiğiter, Şule Yüksel.<br/>Yer Numarası TEZ/8923 .Y54 2009<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Alzheimer tipi demans hastaları ve hafif bilişsel bozukluğu olan hastalar ile sağlıklı yaşlı bireylerin dikkat ve yönetici işlevlere ilişkin nöropsikolojik test profilleri açısından karşılaştırılmasıent://SD_ILS/0/SD_ILS:1242842024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Emik, Gözde.<br/>Yer Numarası TEZ/8767 .E45 2009<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>İlaç etken maddesi olarak tasarlanmış bazı nitrolu bileşiklerin, UMU-Test sistemi ile genotoksik potansiyellerinin saptanması = Detection of genotoxic potentials of some nitro compounds which are designed as drug agents by UMU-Test systement://SD_ILS/0/SD_ILS:1247332024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Somay, Tuğba.<br/>Yer Numarası TEZ/9083 .S66 2009<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Bazı benzoksazol türevi bileşiklerin ames test sistemi ile mutajenik potansiyellerinin belirlenmesi = Detection of mutagenic potentials of some benzoxazole derivatives by ames test systement://SD_ILS/0/SD_ILS:1247452024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Soysal, Zeliha.<br/>Yer Numarası TEZ/9092 .S69 2009<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>İç kulak anomalisi olan koklear implant kullanıcılarında objektif test yöntemlerinin karşılaştırılmasıent://SD_ILS/0/SD_ILS:1267902024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Çınar, Betül Çiçek.<br/>Yer Numarası TEZ WV 250 C5741 2009<br/>Format: Kitap<br/>Durum Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1<br/>Bilgisayarlı Simge Afazı Test'inin Türkçe adaptasyon ve standardizasyon çalışmasıent://SD_ILS/0/SD_ILS:1267932024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Türkyılmaz, Meral Didem.<br/>Yer Numarası TEZ WV 272 T9391 2009<br/>Format: Kitap<br/>Durum Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1<br/>Muhasebe verilerinin bilgisel içeriği ve İstanbul Menkul Kıymetler Borsası'nda test edilmesient://SD_ILS/0/SD_ILS:1237872024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar İç, Süleyman.<br/>Yer Numarası TEZ/8822 I2 2009<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Hazard oranının testinde uyarlamalı düzenler = Adaptive designs in the test of Hazard ratioent://SD_ILS/0/SD_ILS:1246492024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Parlak Demirhan, Yaprak.<br/>Yer Numarası TEZ/9035 .D46 2009<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>The Testing Network An Integral Approach to Test Activities in Large Software Projectsent://SD_ILS/0/SD_ILS:1881542024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Henry, Pierre. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-78504-0">http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-78504-0</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits The system on chip approachent://SD_ILS/0/SD_ILS:2477572024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Yichuang Sun, ed.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1049/PBCS019E">http://dx.doi.org/10.1049/PBCS019E</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>İngilizce test kılavuzu = A guidebook for English tests "Practice tests for proficiency in English"ent://SD_ILS/0/SD_ILS:1397972024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Boztaş, İsmail. Aksoy, Ziya. Kocaman, Ahmet.<br/>Yer Numarası PE1498 .B719 2008<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>System-on-chip test architectures nanometer design for testabilityent://SD_ILS/0/SD_ILS:1485572024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Wang, Laung-Terng. Stroud, Charles E. Touba, Nur A.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim ScienceDirect <a href="http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123739735">http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123739735</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Disk makaslama indeks deneyi ile daynım anizotropisinin araştırılması = Investigation of strenght anisotrophy by the block punch index testent://SD_ILS/0/SD_ILS:1180182024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Karakul, Hasan<br/>Yer Numarası TEZ/8551 .K373 2007<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Koklear implantlı hastalarda objektif ve subjektif test yöntemlerinin karşılaştırılmasıent://SD_ILS/0/SD_ILS:1186812024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Bülbül Börü, Aslı.<br/>Yer Numarası TEZ WV 270 B933 2008<br/>Format: Kitap<br/>Durum Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1<br/>Klasik test kuramı genellenebilirlik kuramı ve Rasch modeli üzerine bir araştırma/Neşe Güler.ent://SD_ILS/0/SD_ILS:1190662024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Güler, Neşe.<br/>Yer Numarası TEZ 8623 .G854 2008<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Kromozom kusurlarının prenatal taramasında üçlü test ile yapay sinir ağları kullanan akıllı tanı sisteminin karşılaştırılmasıent://SD_ILS/0/SD_ILS:1270322024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Katlan, Doruk Cevdi.<br/>Yer Numarası TEZ WQ 209 K1966 2008<br/>Format: Kitap<br/>Durum Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1<br/>Design, Automation, and Test in Europe The Most Influential Papers of 10 Years Dateent://SD_ILS/0/SD_ILS:1698262024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Lauwereins, Rudy. editor. Madsen, Jan. editor. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-6488-3">http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-6488-3</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Testent://SD_ILS/0/SD_ILS:1701352024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Pavlov, Andrei. author. Sachdev, Manoj. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8363-1">http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8363-1</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Fen - Mühendislik fakülteleri ve yüksek okul öğrencileri için matematik analiz ve analitik geometri problem çözümleri (ek test ve çözüm ilaveli)ent://SD_ILS/0/SD_ILS:3408232024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Edwards, C. Henry. Penney, D. Akın, Ömer.<br/>Yer Numarası QA 37.2 E248 2008 V.1<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~2<br/>İçerden Öğrenenlerin Hisse Senedi İşlemlerinin İstanbul Menkul Kıymetler Borsasında Test Edilmesient://SD_ILS/0/SD_ILS:1133932024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Doğu, Murat<br/>Yer Numarası TEZ/8379 .D648 2007<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Karyönetimi Uygulamaları Ve İstanbul Menkul Kıymetler Borsası'nda Test Edilmesient://SD_ILS/0/SD_ILS:1133992024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Ayarlıoğlu, Mehmet Akif<br/>Yer Numarası TEZ/8381 .A937 2007<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Test- und Prüfungsaufgaben Regelungstechnik 457 durchgerechnete Beispiele mit analytischen, nummerischen und computeralgebraischen Lösungen in MATLAB und MAPLEent://SD_ILS/0/SD_ILS:1769332024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Weinmann, Alexander. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-211-37139-8">http://dx.doi.org/10.1007/978-3-211-37139-8</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Genç ve yaşlı yetişkinlerde yönerge türü, test edilme süresi ve kelimelerin somutluk düzeyinin kelime kökü tamamlama puanı üzerindeki etkisient://SD_ILS/0/SD_ILS:1086192024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Kaynak, Hande. Psikoloji Anabilim Dalı Deneysel Psikoloji Bilim Dalı. Tez<br/>Yer Numarası TEZ/8109 .K396 2007<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Ekonomik test tasarımı ve optimizasyonu için kısıt programlama kullanılmasıent://SD_ILS/0/SD_ILS:1132262024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Koyuncu, Onur<br/>Yer Numarası TEZ/8357 .K698 2007<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Interpreting standardized test scores strategies for data-driven instructional decision makingent://SD_ILS/0/SD_ILS:3685952024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Mertler, Craig A.<br/>Yer Numarası ONLINE(368595.1)<br/>Elektronik Erişim SAGE knowledge <a href="http://sk.sagepub.com/books/interpreting-standardized-test-scores">http://sk.sagepub.com/books/interpreting-standardized-test-scores</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Design of Systems on a Chip: Design and Testent://SD_ILS/0/SD_ILS:1658572024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Reis, Ricardo. editor. Lubaszewski, Marcelo. editor. Jess, Jochen A.G. editor. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/0-387-32500-X">http://dx.doi.org/10.1007/0-387-32500-X</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Goodwillbilanzierung und Informationsvermittlung nach internationalen Rechnungslegungsstandards Business Combinations (IFRS, US-GAAP), Kaufpreisallokation, Impairment Test, Konvergenzbestrebungenent://SD_ILS/0/SD_ILS:2032942024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Lopatta, Kerstin. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-8350-9211-2">http://dx.doi.org/10.1007/978-3-8350-9211-2</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Theory of preliminary test and Stein-type estimation with applicationsent://SD_ILS/0/SD_ILS:3030512024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Saleh, A. K. Md. Ehsanes. Wiley InterScience (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim John Wiley <a href="http://dx.doi.org/10.1002/0471773751">http://dx.doi.org/10.1002/0471773751</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>VLSI test principles and architectures design for testabilityent://SD_ILS/0/SD_ILS:2537792024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Wang, Laung-Terng. Wu, Cheng-Wen, EE Ph. D. Wen, Xiaoqing.<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim ScienceDirect <a href="http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123705976">http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123705976</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Thermal-hydraulics modeling of HTR-10 test reactor via computational fluid dynamics mrthod = HTR-10 test faktörünün ısıl-akışının hesaplamalı akışkanlar dinamiği metodu ile modellenmesient://SD_ILS/0/SD_ILS:1048922024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Güler, İ.Özgün.<br/>Yer Numarası TEZ/7634 .G9715 2006<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>The Core Test Wrapper Handbook Rationale and Application of IEEE Std. 1500™ent://SD_ILS/0/SD_ILS:1660492024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Silva, Francisco. author. McLaurin, Teresa. author. Waayers, Tom. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/0-387-34609-0">http://dx.doi.org/10.1007/0-387-34609-0</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>.NET Test Automation Recipes A Problem-Solution Approachent://SD_ILS/0/SD_ILS:1708682024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar McCaffrey, James D. author. SpringerLink (Online service)<br/>Yer Numarası ONLINE<br/>Elektronik Erişim <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4302-0163-2">http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4302-0163-2</a><br/>Format: Elektrnik Kaynak<br/>Durum Çevrimiçi Kütüphane~1<br/>Make and test projects in engineering design : creativity, engagement and learningent://SD_ILS/0/SD_ILS:1100092024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Samuel, A. E. (Andrew E.), 1931-<br/>Yer Numarası TA174 .S268 2006<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~1<br/>Pass key to the TOEFL iBT : test of English as a foreign language : internet-based testent://SD_ILS/0/SD_ILS:1106952024-12-26T10:34:20Z2024-12-26T10:34:20ZYazar Sharpe, Pamela J.<br/>Yer Numarası PE1128 .S523 2006<br/>Format: Kitap<br/>Durum Beytepe Kütüphanesi~3<br/>