Physical Principles of Electron Microscopy An Introduction to TEM, SEM, and AEM
tarafından
 
Egerton, Ray F. author.

Başlık
: 
Physical Principles of Electron Microscopy An Introduction to TEM, SEM, and AEM

Yazar
: 
Egerton, Ray F. author.

ISBN
: 
9780387260167

Fiziksel Tanımlama
: 
XII, 202 p. 122 illus. online resource.

Konu Terimleri
: 
Chemistry.
 
Microscopy.
 
Nanotechnology.
 
Surfaces (Physics).

Tüzel Kişi Ek Girişi
: 
SpringerLink (Online service)

Elektronik Erişim
: 
http://dx.doi.org/10.1007/b136495


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Çevrimiçi KütüphaneE-Kitap165220-2001ONLINEElektronik Kütüphane