Data Mining and Diagnosing IC Fails
tarafından
 
Huisman, Leendert M. author.

Başlık
: 
Data Mining and Diagnosing IC Fails

Yazar
: 
Huisman, Leendert M. author.

ISBN
: 
9780387263519

Fiziksel Tanımlama
: 
XIX, 250 p. online resource.

Seri
: 
Frontiers in Electronic Testing, 31

Seri Başlığı
: 
Frontiers in Electronic Testing, 0929-1296 ; 31

Konu Terimleri
: 
Engineering.
 
Electronics.
 
Systems engineering.

Tüzel Kişi Ek Girişi
: 
SpringerLink (Online service)

Elektronik Erişim
: 
http://dx.doi.org/10.1007/b137446


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Çevrimiçi KütüphaneE-Kitap165270-2001ONLINEElektronik Kütüphane