Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability
tarafından
 
Tehranipoor, Mohammad. editor.

Başlık
: 
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability

Yazar
: 
Tehranipoor, Mohammad. editor.

ISBN
: 
9780387747477

Fiziksel Tanımlama
: 
online resource.

Seri
: 
Frontiers in Electronic Testing, 37

Seri Başlığı
: 
Frontiers in Electronic Testing, 0929-1296 ; 37

Konu Terimleri
: 
Engineering.
 
System safety.
 
Computer engineering.
 
Electronics.
 
Systems engineering.
 
Nanotechnology.

Tüzel Kişi Ek Girişi
: 
SpringerLink (Online service)

Elektronik Erişim
: 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Çevrimiçi KütüphaneE-Kitap167204-2001ONLINEElektronik Kütüphane