Defects in High-k Gate Dielectric Stacks Nano-Electronic Semiconductor Devices
tarafından
 
Gusev, Evgeni. editor.

Başlık
: 
Defects in High-k Gate Dielectric Stacks Nano-Electronic Semiconductor Devices

Yazar
: 
Gusev, Evgeni. editor.

ISBN
: 
9781402043673

Fiziksel Tanımlama
: 
X, 492 p. online resource.

Seri
: 
NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry, 220

Seri Başlığı
: 
NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry, 1568-2609 ; 220

Konu Terimleri
: 
Engineering.
 
Condensed matter.
 
Electronics.

Tüzel Kişi Ek Girişi
: 
SpringerLink (Online service)

Elektronik Erişim
: 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-4367-8


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Çevrimiçi KütüphaneE-Kitap169156-2001ONLINEElektronik Kütüphane