Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces
tarafından
 
Walkosz, Weronika. author.

Başlık
: 
Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces

Yazar
: 
Walkosz, Weronika. author.

ISBN
: 
9781441978172

Fiziksel Tanımlama
: 
XIV, 110 p. online resource.

Seri
: 
Springer Theses

Seri Başlığı
: 
Springer Theses

Konu Terimleri
: 
Microreactors.
 
Chemistry, Physical organic.
 
Materials.

Tüzel Kişi Ek Girişi
: 
SpringerLink (Online service)

Elektronik Erişim
: 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7817-2


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Çevrimiçi KütüphaneE-Kitap172989-2001ONLINEElektronik Kütüphane