Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
tarafından
 
Shen, Ruijing. author.

Başlık
: 
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

Yazar
: 
Shen, Ruijing. author.

ISBN
: 
9781461407881

Fiziksel Tanımlama
: 
XXXI, 305p. 104 illus. online resource.

Konu Terimleri
: 
Engineering.
 
Computer aided design.
 
Systems engineering.

Yazar Ek Girişi
: 
Tan, Sheldon X.-D.
 
Yu, Hao.

Tüzel Kişi Ek Girişi
: 
SpringerLink (Online service)

Elektronik Erişim
: 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0788-1


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Çevrimiçi KütüphaneE-Kitap173778-2001ONLINEElektronik Kütüphane