Lifetime Spectroscopy A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
tarafından
 
Rein, Stefan. author.

Başlık
: 
Lifetime Spectroscopy A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications

Yazar
: 
Rein, Stefan. author.

ISBN
: 
9783540279228

Fiziksel Tanımlama
: 
XXVI, 489 p. 153 illus. online resource.

Seri
: 
Springer Series in Material Science, 85

Seri Başlığı
: 
Springer Series in Material Science, 0933-033X ; 85

Konu Terimleri
: 
Physics.
 
Particles (Nuclear physics).
 
Optical materials.

Tüzel Kişi Ek Girişi
: 
SpringerLink (Online service)

Elektronik Erişim
: 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-27922-9


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Çevrimiçi KütüphaneE-Kitap181606-2001ONLINEElektronik Kütüphane