Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments
tarafından
 
Xie, Hui. author.

Başlık
: 
Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments

Yazar
: 
Xie, Hui. author.

ISBN
: 
9783642203299

Fiziksel Tanımlama
: 
XIV, 344 p. online resource.

Seri
: 
Springer Tracts in Advanced Robotics, 71

Seri Başlığı
: 
Springer Tracts in Advanced Robotics, 1610-7438 ; 71

Konu Terimleri
: 
Engineering.
 
Artificial intelligence.

Yazar Ek Girişi
: 
Onal, Cagdas.
 
Régnier, Stéphane.
 
Sitti, Metin.

Tüzel Kişi Ek Girişi
: 
SpringerLink (Online service)

Elektronik Erişim
: 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-20329-9


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Çevrimiçi KütüphaneE-Kitap194334-2001ONLINEElektronik Kütüphane