Kelvin Probe Force Microscopy Measuring and Compensating Electrostatic Forces
tarafından
 
Sadewasser, Sascha. editor.

Başlık
: 
Kelvin Probe Force Microscopy Measuring and Compensating Electrostatic Forces

Yazar
: 
Sadewasser, Sascha. editor.

ISBN
: 
9783642225666

Fiziksel Tanımlama
: 
XIV, 331p. 189 illus., 86 illus. in color. online resource.

Seri
: 
Springer Series in Surface Sciences, 48

Seri Başlığı
: 
Springer Series in Surface Sciences, 0931-5195 ; 48

Konu Terimleri
: 
Thermodynamics.
 
Engineering.
 
Surfaces (Physics).

Yazar Ek Girişi
: 
Glatzel, Thilo.

Tüzel Kişi Ek Girişi
: 
SpringerLink (Online service)

Elektronik Erişim
: 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-22566-6


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Çevrimiçi KütüphaneE-Kitap195066-2001ONLINEElektronik Kütüphane