Semiconductor memories technology, testing, and reliability
tarafından
 
Sharma, Ashok K.

Başlık
: 
Semiconductor memories technology, testing, and reliability

Yazar
: 
Sharma, Ashok K.

ISBN
: 
9780470546406

Yayın Bilgileri
: 
Piscataway, N.J. : IEEE Press ; New York : Institute of Electrical and Electronics Engineers, c1997.

Fiziksel Tanımlama
: 
1 online resource (xii, 462 p.) : ill.

Konu Terimleri
: 
Semiconductor storage devices.

Tür
: 
Electronic books.

Tüzel Kişi Ek Girişi
: 
IEEE Solid-State Circuits Council.

Elektronik Erişim
: 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5264189


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Çevrimiçi KütüphaneE-Kitap249739-1001ONLINEElektronik Kütüphane