Electronics reliability and measurement technology nondestructive evaluation
tarafından
 
Heyman, Joseph S.

Başlık
: 
Electronics reliability and measurement technology nondestructive evaluation

Yazar
: 
Heyman, Joseph S.

ISBN
: 
9781591240518
 
9780815511717
 
9780815516996

Yayın Bilgileri
: 
Park Ridge, N.J., U.S.A. : Noyes Data Corp., ©1988.

Fiziksel Tanımlama
: 
1 online resource (xii, 128 pages) : illustrations

Konu Terimleri
: 
Integrated circuits -- Reliability -- Congresses.
 
Nondestructive testing -- Congresses.
 
Integrated circuits -- Testing -- Congresses.

Yazar Ek Girişi
: 
Heyman, Joseph S.

Elektronik Erişim
: 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780815511717


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Çevrimiçi KütüphaneE-Kitap254151-1001ONLINEElektronik Kütüphane