Semiconductor strain metrology principles and applications
tarafından
 
Wong, Terence K. S.

Başlık
: 
Semiconductor strain metrology principles and applications

Yazar
: 
Wong, Terence K. S.

ISBN
: 
9781608053599

Yayın Bilgileri
: 
[Saif Zone, Sharjah, U.A.E] ; Oak Park, IL : Bentham Science, [2012]

Fiziksel Tanımlama
: 
1 online resource (136 p. :) ill.

Konu Terimleri
: 
Semiconductors -- Design and construction -- Materials.
 
Compound semiconductors -- Design and construction -- Materials.
 
Silicon-on-insulator technology.

Elektronik Erişim
: 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=500610


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Çevrimiçi KütüphaneE-Kitap280205-1001ONLINEElektronik Kütüphane