RF and microwave modeling and measurement techniques for field effect transistors
tarafından
 
Gao, Jianjun, 1968-

Başlık
: 
RF and microwave modeling and measurement techniques for field effect transistors

Yazar
: 
Gao, Jianjun, 1968-

ISBN
: 
9781613442869
 
9781613530900

Yayın Bilgileri
: 
Raleigh, NC : SciTech Pub., c2010.

Fiziksel Tanımlama
: 
1 online resource (x, 339 p.) : ill.

Konu Terimleri
: 
Field-effect transistors -- Testing.
 
Compound semiconductors -- Testing.
 
Field-effect transistors -- Mathematical models.
 
Compound semiconductors -- Mathematical models.
 
Microwave measurements.
 
Radio measurements.

Tüzel Kişi Ek Girişi
: 
Knovel (Firm)

Elektronik Erişim
: 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=571541


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Çevrimiçi KütüphaneE-Kitap280925-1001ONLINEElektronik Kütüphane