Surface analysis with STM and AFM experimental and theoretical aspects of image analysis
tarafından
 
Magonov, Sergei N.

Başlık
: 
Surface analysis with STM and AFM experimental and theoretical aspects of image analysis

Yazar
: 
Magonov, Sergei N.

ISBN
: 
9783527615117

Yayın Bilgileri
: 
Weinheim ; New York : VCH, c1996.

Fiziksel Tanımlama
: 
xii, 323 p. : ill. ; 25 cm.

Konu Terimleri
: 
Surfaces (Technology) -- Analysis.
 
Scanning tunneling microscopy.
 
Atomic force microscopy.
 
Metals -- Surfaces -- Analysis.
 
Semiconductors -- Testing.
 
Electric insulators and insulation -- Testing.

Yazar Ek Girişi
: 
Whangbo, Myung-Hwan.

Tüzel Kişi Ek Girişi
: 
Wiley InterScience (Online service)

Elektronik Erişim
: 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527615117


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Çevrimiçi KütüphaneE-Kitap300738-1001ONLINEElektronik Kütüphane