Statistical pattern recognition
tarafından
 
Chen, Chi-hau.

Başlık
: 
Statistical pattern recognition

Yazar
: 
Chen, Chi-hau.

ISBN
: 
9780876711774

Yayın Bilgileri
: 
Rochelle Park, N. J. : Hayden Book Co., 1973.

Fiziksel Tanımlama
: 
xvi, 236 s. : res.

Konu Terimleri
: 
OPTİK ÖRNEK TANIMA.


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Beytepe KütüphanesiKitap7.2/12/573807Q 327 C42 1973Beytepe Genel Koleksiyon