X-ray diffraction topography
tarafından
 
Tanner, Brian Keith.

Başlık
: 
X-ray diffraction topography

Yazar
: 
Tanner, Brian Keith.

Yayın Bilgileri
: 
Oxford : Pergamon, 1976.

Fiziksel Tanımlama
: 
174 s.

Konu Terimleri
: 
X-IŞINI KRİSTALOGRAFİSİ.


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Beytepe KütüphanesiKitap7.2/12/585026QD 945 T36 1976Beytepe Genel Koleksiyon