Ellipsometry at the Nanoscale
tarafından
 
Losurdo, Maria. editor.

Başlık
: 
Ellipsometry at the Nanoscale

Yazar
: 
Losurdo, Maria. editor.

ISBN
: 
9783642339561

Fiziksel Tanımlama
: 
XXIV, 730 p. 423 illus., 106 illus. in color. online resource.

Konu Terimleri
: 
Engineering.
 
Nanotechnology.
 
Surfaces (Physics).
 
Nanotechnology and Microengineering.
 
Measurement Science and Instrumentation.
 
Characterization and Evaluation of Materials.

Yazar Ek Girişi
: 
Hingerl, Kurt.

Tüzel Kişi Ek Girişi
: 
SpringerLink (Online service)

Elektronik Erişim
: 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-33956-1


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Çevrimiçi KütüphaneE-Kitap333782-1001ONLINE(333782.1)Elektronik Kütüphane