Testing static random access memories : Defects, fault models, and test patterns
tarafından
Hamdioui, Said.
Başlık
:
Testing static random access memories : Defects, fault models, and test patterns
Yazar
:
Hamdioui, Said.
ISBN
:
9781402077524
Yayın Bilgileri
:
Boston : Kluwer Academic, 2004.
Fiziksel Tanımlama
:
xx, 221 s.
Seri
:
Frontiers in electronic testing
Konu Terimleri
:
Random access memory -- Testing.
Rastgele erişimli bellek -- Deneme.
| Kütüphane | Materyal Türü | Demirbaş Numarası | Yer Numarası | [[missing key: search.ChildField.HOLDING]] | Durumu/İade Tarihi |
|---|
| Beytepe Kütüphanesi | Kitap | 7.2/19/3834 | TK7895.M4 H34 2004 | | Beytepe Genel Koleksiyon |