Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
tarafından
 
Sayil, Selahattin. author.

Başlık
: 
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques

Yazar
: 
Sayil, Selahattin. author.

ISBN
: 
9783319696737

Basım Bilgisi
: 
1st ed. 2018.

Fiziksel Tanımlama
: 
V, 93 p. 34 illus., 11 illus. in color. online resource.

Konu Terimleri
: 
Systems engineering.
 
Computer science.
 
Electronics.

Tüzel Kişi Ek Girişi
: 
SpringerLink (Online service)

Elektronik Erişim
: 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-69673-7


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Çevrimiçi KütüphaneE-Kitap401142-1001ONLINEElektronik Kütüphane