Computed electron micrographs and defect identification
tarafından
 
Head, A. K.

Başlık
: 
Computed electron micrographs and defect identification

Yazar
: 
Head, A. K.

Yayın Bilgileri
: 
Amsterdam : Horth-Holland, 1973.

Fiziksel Tanımlama
: 
400 s.

Seri
: 
Defects in crystalline solids ; v. 7

Seri Başlığı
: 
Defects in crystalline solids ; v. 7

Konu Terimleri
: 
ELEKTRONİK VERİ İŞLEM -- ELEKTRON MİKROSKOPİ.
 
ELEKTRONİK VERİ İŞLEM -- MADENLER -- KUSURLAR.

Yazar Ek Girişi
: 
Head, A. K.


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Beytepe KütüphanesiKitap7.2/12/584870QD 901 D4 1973 C7Beytepe Genel Koleksiyon