Grundlagen und Anwendung der Röntgen-Feinstrunktur-Analyse
tarafından
 
Neff, Hans.

Başlık
: 
Grundlagen und Anwendung der Röntgen-Feinstrunktur-Analyse

Yazar
: 
Neff, Hans.

ISBN
: 
9780471493693

Basım Bilgisi
: 
2. Aufl.

Yayın Bilgileri
: 
München : Oldenbourg, 1962.

Fiziksel Tanımlama
: 
460 s.

Konu Terimleri
: 
X-IŞIINI KRİSTALOGRAFİSİ.
 
X-IŞINLARI -- IŞIK KIRILMASI.


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Beytepe KütüphanesiKitap7.2/12/580913QC 482.D5 N43 1962Beytepe Genel Koleksiyon