Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
tarafından
 
Jayanthy, S. author.

Başlık
: 
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits

Yazar
: 
Jayanthy, S. author.

ISBN
: 
9789811324932

Basım Bilgisi
: 
1st ed. 2019.

Fiziksel Tanımlama
: 
XI, 156 p. 49 illus., 7 illus. in color. online resource.

Konu Terimleri
: 
Electronic circuits.
 
Microprogramming .
 
Computer software—Reusability.

Yazar Ek Girişi
: 
Bhuvaneswari, M.C.

Tüzel Kişi Ek Girişi
: 
SpringerLink (Online service)

Elektronik Erişim
: 
https://doi.org/10.1007/978-981-13-2493-2


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Çevrimiçi KütüphaneE-Kitap484415-1001ONLINEElektronik Kütüphane