Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
tarafından
 
Mrozek, Ireneusz. author.

Başlık
: 
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults

Yazar
: 
Mrozek, Ireneusz. author.

ISBN
: 
9783319912042

Basım Bilgisi
: 
1st ed. 2019.

Fiziksel Tanımlama
: 
X, 135 p. 34 illus. online resource.

Konu Terimleri
: 
Electronic circuits.
 
Microprocessors.
 
Electronics.

Tüzel Kişi Ek Girişi
: 
SpringerLink (Online service)

Elektronik Erişim
: 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-91204-2


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Çevrimiçi KütüphaneE-Kitap487779-1001ONLINEElektronik Kütüphane