Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
tarafından
 
Franco, Jacopo. author.

Başlık
: 
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications

Yazar
: 
Franco, Jacopo. author.

ISBN
: 
9789400776630

Basım Bilgisi
: 
1st ed. 2014.

Fiziksel Tanımlama
: 
XIX, 187 p. 219 illus. online resource.

Seri
: 
Springer Series in Advanced Microelectronics, 47

Konu Terimleri
: 
Semiconductors.
 
Electronic circuits.
 
Optical materials.

Yazar Ek Girişi
: 
Kaczer, Ben.
 
Groeseneken, Guido.

Tüzel Kişi Ek Girişi
: 
SpringerLink (Online service)

Elektronik Erişim
: 
https://doi.org/10.1007/978-94-007-7663-0


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Çevrimiçi KütüphaneE-Kitap489246-1001ONLINEElektronik Kütüphane