Advanced VLSI design and testability issues
tarafından
 
Tripathi, Suman Lata.

Başlık
: 
Advanced VLSI design and testability issues

Yazar
: 
Tripathi, Suman Lata.

ISBN
: 
9781000168174
 
9781003083436
 
9781000168150
 
9781000168167

Yayın Bilgileri
: 
Boca Raton, FL : CRC Press, 2020.

Fiziksel Tanımlama
: 
1 online resource.

Konu Terimleri
: 
TECHNOLOGY / Electricity
 
TECHNOLOGY / Electronics / Circuits / General
 
Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design and construction.

Yazar Ek Girişi
: 
Tripathi, Suman Lata.
 
Saxena, Sobhit.
 
Mohapatra, Sushanta Kumar.

Elektronik Erişim
: 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003083436
 
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Çevrimiçi KütüphaneE-Kitap560458-1001TK7874.75Taylor Fransic E-Kitap Koleksiyonu