Physical measurement and analysis of thin films
tarafından
 
Eastern Analytical Symposium (1967 : New York).

Başlık
: 
Physical measurement and analysis of thin films

Yazar
: 
Eastern Analytical Symposium (1967 : New York).

Toplantı Adı Girişi
: 
Eastern Analytical Symposium (1967 : New York).

Yayın Bilgileri
: 
New York : Plenum, 1969.

Fiziksel Tanımlama
: 
xi, 194 s. : res.

Seri
: 
Progress in analytical chemistry ; v.2

Seri Başlığı
: 
Progress in analytical chemistry ; v.2

Konu Terimleri
: 
İNCE FİLİMLER.

Yazar Ek Girişi
: 
Murt, E. M., ed.
 
Guldner, W. G., ed.


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Beytepe KütüphanesiKitap7.2/12/448946QC 176 E2 1967Beytepe Genel Koleksiyon