Hidrojenlendirilmiş amorf silisyum filimlerde uzay yükü ile sınırlı akım tekniği ile durum yoğunluğunun belirlenmesi
tarafından
 
Okat, Tolga.

Başlık
Hidrojenlendirilmiş amorf silisyum filimlerde uzay yükü ile sınırlı akım tekniği ile durum yoğunluğunun belirlenmesi

Yazar
Okat, Tolga.

Yayın Bilgileri
Ankara : Hacettepe Üniv., 2001.

Fiziksel Tanımlama
xi, 110 y.

Konu Terimleri
SİLİSYUM.
 
ŞEKİLSİZ YARIİLETKENLER.
 
Silicon.
 
Amorphous semiconductors.


KütüphaneMateryal TürüDemirbaş NumarasıYer Numarası[[missing key: search.ChildField.HOLDING]]Durumu/İade Tarihi
Beytepe KütüphanesiTez7.2/12/359027TEZ/5179 O1 2001Beytepe Tez Koleksiyonu