Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Computer software -- Reliability.
(15)
Electronic books.
(8)
Computer security.
(5)
Electronic digital computers -- Reliability.
(3)
Fault-tolerant computing.
(3)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
26 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Safety Assurance under Uncertainties : From Software to Cyber-Physical/Machine Learning Systems için kapak resmi
Safety Assurance under Uncertainties : From Software to Cyber-Physical/Machine Learning Systems
Yazar 
Hasuo, Ichiro editor Ishikawa, Fuyuki editor
Yer Numarası 
QA76.9 .A25
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003093350
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Internet of Things, Smart Spaces, and Next Generation Networks and Systems 22nd International Conference, NEW2AN 2022, Tashkent, Uzbekistan, December 15-16, 2022, Proceedings için kapak resmi
Internet of Things, Smart Spaces, and Next Generation Networks and Systems 22nd International Conference, NEW2AN 2022, Tashkent, Uzbekistan, December 15-16, 2022, Proceedings
Yazar 
Koucheryavy, Yevgeni. editor. (orcid) Aziz, Ahmed. editor. (orcid) SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-30258-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Multi-criteria decision models in software reliability : methods and applications için kapak resmi
Multi-criteria decision models in software reliability : methods and applications
Yazar 
Mishra, Ashish (Ashish Kumar), editor. Dieu Linh, Nguyen Thi, editor. Bhardwaj, Manish (Professor of computer science and engineering), editor. Pinto, Carla M. A. (Computer scientist), editor.
Yer Numarası 
QA76.76 .R44 M85 2023
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9780367816414
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Software reliability techniques for real-world applications için kapak resmi
Software reliability techniques for real-world applications
Yazar 
Youree, Roger K., author.
Yer Numarası 
QA76.76 .R44
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119931850
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
The Electrical Engineering Handbook - Six Volume Set için kapak resmi
The Electrical Engineering Handbook - Six Volume Set
Yazar 
Dorf, Richard C., editor. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
R857 .B54
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Self-Regulation in Activity Theory : Applied Work Design for Human-Computer and Human-Machine Systems için kapak resmi
Self-Regulation in Activity Theory : Applied Work Design for Human-Computer and Human-Machine Systems
Yazar 
Bedny, Gregory Z., author. Karwowski, Waldemar, author. Bedny, Inna, author.
Yer Numarası 
TA166 .B436 2018
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/e/9781466569355
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9780429188145
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Artificial neural network for software reliability prediction için kapak resmi
Artificial neural network for software reliability prediction
Yazar 
Bisi, Manjubala, author. Goyal, Neeraj Kumar, author.
Yer Numarası 
QA76.87
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119223931
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Real-time embedded systems için kapak resmi
Real-time embedded systems
Yazar 
Wang, Jiacun, 1963- author.
Yer Numarası 
TK7895 .E42
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119420712
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Computer system reliability : safety and usability için kapak resmi
Computer system reliability : safety and usability
Yazar 
Dhillon, B. S., author.
Yer Numarası 
QA76.76 .R44 D495 2013
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Reliability and availability of cloud computing için kapak resmi
Reliability and availability of cloud computing
Yazar 
Bauer, Eric. Adams, Randee. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6266788
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Secure and resilient software : requirements, test cases, and testing methods için kapak resmi
Secure and resilient software : requirements, test cases, and testing methods
Yazar 
Merkow, Mark S., author. Raghavan, Lakshmikanth.
Yer Numarası 
QA76.76 .T48 M47 2012
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Model-Based Requirements Engineering için kapak resmi
Model-Based Requirements Engineering
Yazar 
Holt, Jon Perry, Simon A Brownsword, Mike
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBPC009E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets