Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Metrology and standardization of nanotechnology : protocols and industrial innovations için kapak resmi
Metrology and standardization of nanotechnology : protocols and industrial innovations
Yazar 
Mansfield, Elisabeth, editor. Kaiser, Debra L., editor. Fujita, Daisuke, editor. Voorde, M. H. van de (Marcel H.), editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley Online Library
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Fullerene nano-whiskers için kapak resmi
Fullerene nano-whiskers
Yazar 
Miyazawa, Kun'ichi.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets