Başlık:
X-ray metrology in semiconductor manufacturing
Yazar:
Bowen, D. Keith (David Keith), 1940-
ISBN:
9781420005653
Yayın Bilgileri:
Boca Raton : CRC/Taylor & Francis, 2006.
Fiziksel Tanımlama:
279 p. : ill.
Yazar Ek Girişi:
Ayırtma:
Kopya:
Rafta:*
Kütüphane | Materyal Türü | Demirbaş Numarası | Yer Numarası | Durumu/İade Tarihi | Materyal Ayırtma |
|---|---|---|---|---|---|
Arıyor... | E-Kitap | 287443-1001 | ONLINE | Arıyor... | Arıyor... |