Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Digital integrated circuits -- Testing.
(4)
Electronic books.
(4)
Integrated circuits--Testing.
(4)
Application-specific integrated circuits.
(3)
Integrated circuits -- Testing.
(3)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
24 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits için kapak resmi
Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits
Yazar 
Goel, Sandeep K, editor of compilation. Chakrabarty, Krishnendu, editor of compilation.
Yer Numarası 
TK7871.99 .M44 T43 2014
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Electronics, power electronics, optoelectronics, microwaves, electromagnetics, and radar için kapak resmi
Electronics, power electronics, optoelectronics, microwaves, electromagnetics, and radar
Yazar 
Dorf, Richard C., author Dorf, Richard C., editor.
Yer Numarası 
TK145
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781315222158
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Design of 3D integrated circuits and systems için kapak resmi
Design of 3D integrated circuits and systems
Yazar 
Sharma, Rohit, editor.
Yer Numarası 
TK7874.893 .D48 2014
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
3D IC stacking technology için kapak resmi
3D IC stacking technology
Yazar 
Wu, Banqiu. Kumar, Ajay. Ramaswami, Sesh.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
ESD failure mechanisms and models için kapak resmi
ESD failure mechanisms and models
Yazar 
Voldman, Steven H. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470747254
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10317806
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
RF measurements for cellular phones and wireless data systems için kapak resmi
RF measurements for cellular phones and wireless data systems
Yazar 
Scott, Allan W. Frobenius, Rex.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5361014
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
System-on-chip test architectures nanometer design for testability için kapak resmi
System-on-chip test architectures nanometer design for testability
Yazar 
Wang, Laung-Terng. Stroud, Charles E. Touba, Nur A.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123739735
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits The system on chip approach için kapak resmi
Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits The system on chip approach
Yazar 
Yichuang Sun, ed.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBCS019E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Digital design and fabrication için kapak resmi
Digital design and fabrication
Yazar 
Oklobdzija, Vojin G.
Yer Numarası 
TK7885 .D54 2008
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Digital integrated circuits : design-for-test using Simulink and Stateflow için kapak resmi
Digital integrated circuits : design-for-test using Simulink and Stateflow
Yazar 
Perelroyzen, Evgeni.
Yer Numarası 
TK7874 .P445 2007
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
11. 
The VLSI handbook için kapak resmi
The VLSI handbook
Yazar 
Chen, Wai-Kai, 1936-
Yer Numarası 
TK7874.75 .V573 2007
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
VLSI test principles and architectures design for testability için kapak resmi
VLSI test principles and architectures design for testability
Yazar 
Wang, Laung-Terng. Wu, Cheng-Wen, EE Ph. D. Wen, Xiaoqing.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123705976
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets