Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
6 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy : SPM Applications for Nanometrology. için kapak resmi
Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy : SPM Applications for Nanometrology.
Yazar 
Klapetek, Petr.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect https://www.sciencedirect.com/science/book/9780128133477
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Scanning transmission electron microscopy : advanced characterization methods for materials science applications için kapak resmi
Scanning transmission electron microscopy : advanced characterization methods for materials science applications
Yazar 
Bruma, Alina, editor.
Yer Numarası 
QH212 .S34 S33 2021
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9780429243011
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Exploring scanning probe microscopy with mathematica için kapak resmi
Exploring scanning probe microscopy with mathematica
Yazar 
Sarid, Dror. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Volltext http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/bookhome/114123590
Volltext http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9783527610068
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527610068
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Virtual microscopy and virtual slides in teaching, diagnosis, and research için kapak resmi
Virtual microscopy and virtual slides in teaching, diagnosis, and research
Yazar 
Gu, Jiang. Ogilvie, Robert W.
Yer Numarası 
QH211 .V57 2005
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Virtual microscopy and virtual slides in teaching, diagnosis, and research için kapak resmi
Virtual microscopy and virtual slides in teaching, diagnosis, and research
Yazar 
Gu, Jiang. Ogilvie, Robert W.
Yer Numarası 
QH211 .V57 2005
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Computed electron micrographs and defect identification için kapak resmi
Computed electron micrographs and defect identification
Yazar 
Head, A. K.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780720417579
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets