Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
8 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Handbook of surface and nanometrology için kapak resmi
Handbook of surface and nanometrology
Yazar 
Whitehouse, D. J. (David J.), author. Whitehouse, D. J. (David J.). Handbook of surface metrology.
Yer Numarası 
TA418.7 .W47 2011
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Fundamental principles of engineering nanometrology için kapak resmi
Fundamental principles of engineering nanometrology
Yazar 
Leach, R. K.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780080964546
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Fundamental principles of engineering nanometrology için kapak resmi
Fundamental principles of engineering nanometrology
Yazar 
Leach, R. K.
Yer Numarası 
ONLINE(355774.1)
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9781455777532
http://www.sciencedirect.com/science/book/9780080964546
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Handbook of surface and nanometrology için kapak resmi
Handbook of surface and nanometrology
Yazar 
Whitehouse, D. J. (David J.), author. Whitehouse, D. J. (David J.). Handbook of surface metrology.
Yer Numarası 
TA418.7 .W45 2003
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy : SPM Applications for Nanometrology. için kapak resmi
Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy : SPM Applications for Nanometrology.
Yazar 
Klapetek, Petr.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect https://www.sciencedirect.com/science/book/9780128133477
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Precision Nanometrology Sensors and Measuring Systems for Nanomanufacturing için kapak resmi
Precision Nanometrology Sensors and Measuring Systems for Nanomanufacturing
Yazar 
Gao, Wei. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84996-254-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Handbook of Metrology and Applications için kapak resmi
Handbook of Metrology and Applications
Yazar 
Aswal, Dinesh K. editor. Yadav, Sanjay. editor. Takatsuji, Toshiyuki. editor. Rachakonda, Prem. editor. Kumar, Harish. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-99-2074-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Handbook of nanophysics. Principles and methods için kapak resmi
Handbook of nanophysics. Principles and methods
Yazar 
Sattler, Klaus D.
Yer Numarası 
QC173.4 .M5 H358 2009
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets