Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Nonlinear Transistor Model Parameter Extraction Techniques için kapak resmi
Nonlinear Transistor Model Parameter Extraction Techniques
Yazar 
Rudolph, Matthias. Fager, Christian. Root, David E..
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Access by subscription
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
RF and microwave modeling and measurement techniques for field effect transistors için kapak resmi
RF and microwave modeling and measurement techniques for field effect transistors
Yazar 
Gao, Jianjun, 1968- Knovel (Firm)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=571541
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Measurement and modeling of silicon heterostructure devices için kapak resmi
Measurement and modeling of silicon heterostructure devices
Yazar 
Cressler, John D.
Yer Numarası 
TK7871.96 .B55 M33 2008
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Modeling and Characterization of RF and Microwave Power FETs için kapak resmi
Modeling and Characterization of RF and Microwave Power FETs
Yazar 
Aaen, Peter. Plá, Jaime A.. Wood, John.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Access by subscription
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Charge-based MOS transistor modeling the EKV model for low-power and RF IC design için kapak resmi
Charge-based MOS transistor modeling the EKV model for low-power and RF IC design
Yazar 
Enz, Christian. Vittoz, Eric A., 1938- Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0470855460
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets