Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
7 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Software metrics and software metrology için kapak resmi
Software metrics and software metrology
Yazar 
Abran, Alain, 1949-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6381791
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Software Process and Product Measurement International Conferences IWSM 2009 and Mensura 2009 Amsterdam, The Netherlands, November 4-6, 2009. Proceedings için kapak resmi
Software Process and Product Measurement International Conferences IWSM 2009 and Mensura 2009 Amsterdam, The Netherlands, November 4-6, 2009. Proceedings
Yazar 
Abran, Alain. editor. Braungarten, René. editor. Dumke, Reiner R. editor. Cuadrado-Gallego, Juan J. editor. Brunekreef, Jacob. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-05415-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
COSMIC function points theory and advanced practices için kapak resmi
COSMIC function points theory and advanced practices
Yazar 
Dumke, Reiner. Abran, Alain, 1949-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Software maintenance management evaluation and continuous improvement için kapak resmi
Software maintenance management evaluation and continuous improvement
Yazar 
April, Alain, 1958- Abran, Alain, 1949-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6129685
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Software Engineering Research, Management and Applications 2010 için kapak resmi
Software Engineering Research, Management and Applications 2010
Yazar 
Lee, Roger. editor. Ormandjieva, Olga. editor. Abran, Alain. editor. Constantinides, Constantinos. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-13273-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Software Process and Product Measurement International Conference, IWSM-Mensura 2007, Palma de Mallorca, Spain, November 5-8, 2007. Revised Papers için kapak resmi
Software Process and Product Measurement International Conference, IWSM-Mensura 2007, Palma de Mallorca, Spain, November 5-8, 2007. Revised Papers
Yazar 
Cuadrado-Gallego, Juan J. editor. Braungarten, René. editor. Dumke, Reiner R. editor. Abran, Alain. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85553-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Software Process and Product Measurement International Conferences IWSM 2008, Metrikon 2008, and Mensura 2008 Munich, Germany, November 18-19, 2008. Proceedings için kapak resmi
Software Process and Product Measurement International Conferences IWSM 2008, Metrikon 2008, and Mensura 2008 Munich, Germany, November 18-19, 2008. Proceedings
Yazar 
Dumke, Reiner R. editor. Braungarten, René. editor. Büren, Günter. editor. Abran, Alain. editor. Cuadrado-Gallego, Juan J. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-89403-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: