Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography Third International Workshop, FDTC 2006, Yokohama, Japan, October 10, 2006. Proceedings için kapak resmi
Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography Third International Workshop, FDTC 2006, Yokohama, Japan, October 10, 2006. Proceedings
Yazar 
Breveglieri, Luca. editor. Koren, Israel. editor. Naccache, David. editor. Seifert, Jean-Pierre. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/11889700
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Formal Languages and Compilation için kapak resmi
Formal Languages and Compilation
Yazar 
Crespi Reghizzi, Stefano. author. Breveglieri, Luca. author. (orcid)0000-0001-5294-6840 Morzenti, Angelo. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-04879-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Formal Languages and Compilation için kapak resmi
Formal Languages and Compilation
Yazar 
Crespi Reghizzi, Stefano. author. Breveglieri, Luca. author. Morzenti, Angelo. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331210.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4471-5514-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: