Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(4)
Lewis, William E., author.
(3)
Taylor and Francis.
(3)
Adıgüzel, Ahmet, author
(2)
Bozkurt, Asiye
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Computer software -- Testing.
(38)
Bilgisayar yazılımı -- Test etme.
(14)
Electronic books.
(6)
Computer security.
(5)
Computer software -- Quality control.
(5)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
61 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Testing computer software için kapak resmi
Testing computer software
Yazar 
Kaner, Cem. Falk, Jack L., ort. yaz. Nguyen, Hung Quoc, ort. yaz.
Yer Numarası 
QA 76.76.T48 K36 1999
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~2
Rafta:
Kopya:
2. 
Embedded software system testing : automatic testing solution based on formal method için kapak resmi
Embedded software system testing : automatic testing solution based on formal method
Yazar 
Yin, Yongfeng, 1978- author. Jiang, Bo, 1981- author. Su, Qingran, translator. Qiu, Ruinan, translator. Guo, Yang (Translator), translator.
Yer Numarası 
TK7895 .E42
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003390923
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Application of Big Data, Blockchain, and Internet of Things for Education Informatization Second EAI International Conference, BigIoT-EDU 2022, Virtual Event, July 29-31, 2022, Proceedings, Part II için kapak resmi
Application of Big Data, Blockchain, and Internet of Things for Education Informatization Second EAI International Conference, BigIoT-EDU 2022, Virtual Event, July 29-31, 2022, Proceedings, Part II
Yazar 
Jan, Mian Ahmad. editor. Khan, Fazlullah. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-23947-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Computer Science and Education 17th International Conference, ICCSE 2022, Ningbo, China, August 18-21, 2022, Revised Selected Papers, Part III için kapak resmi
Computer Science and Education 17th International Conference, ICCSE 2022, Ningbo, China, August 18-21, 2022, Revised Selected Papers, Part III
Yazar 
Hong, Wenxing. editor. Weng, Yang. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-99-2449-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
The 2021 International Conference on Smart Technologies and Systems for Internet of Things STSIoT2021 için kapak resmi
The 2021 International Conference on Smart Technologies and Systems for Internet of Things STSIoT2021
Yazar 
Ahmad, Ishfaq. editor. Ye, Jun. editor. Liu, Weidong. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-19-3632-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Yazılım test rehberi için kapak resmi
Yazılım test rehberi
Yazar 
Bozkurt, Asiye Çüçen, Adem, author Adıgüzel, Ahmet, author
Yer Numarası 
QA76.76.T48 B69 2022
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Automated Software Testing with Cypress için kapak resmi
Automated Software Testing with Cypress
Yazar 
Palani, Narayanan.
Yer Numarası 
QA76.76 .T48
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003145110
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
The Electrical Engineering Handbook - Six Volume Set için kapak resmi
The Electrical Engineering Handbook - Six Volume Set
Yazar 
Dorf, Richard C., editor. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
R857 .B54
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
How to Reduce the Cost of Software Testing için kapak resmi
How to Reduce the Cost of Software Testing
Yazar 
Heusser, Matthew, editor. Kulkarni, Govind, editor. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
QA76.76 .T48
Elektronik Erişim 
Click here to view
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
ESSENTIAL SOFTWARE TESTING : a use-case approach. için kapak resmi
ESSENTIAL SOFTWARE TESTING : a use-case approach.
Yazar 
FOURNIER, GREG.
Yer Numarası 
QA76.76 .T48
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/e/9780429114854
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9780429114854
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Yazılım test rehberi için kapak resmi
Yazılım test rehberi
Yazar 
Bozkurt, Asiye Çüçen, Adem, author Adıgüzel, Ahmet, author
Yer Numarası 
QA76.76.T48 B69 2016
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Intelligent Software Methodologies, Tools and Techniques 14th International Conference, SoMet 2015, Naples, Italy, September 15-17, 2015. Proceedings için kapak resmi
Intelligent Software Methodologies, Tools and Techniques 14th International Conference, SoMet 2015, Naples, Italy, September 15-17, 2015. Proceedings
Yazar 
Fujita, Hamido. editor. (orcid) Guizzi, Guido. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-22689-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç