Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
RF and microwave modeling and measurement techniques for field effect transistors için kapak resmi
RF and microwave modeling and measurement techniques for field effect transistors
Yazar 
Gao, Jianjun, 1968- Knovel (Firm)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=571541
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Modeling and Characterization of RF and Microwave Power FETs için kapak resmi
Modeling and Characterization of RF and Microwave Power FETs
Yazar 
Aaen, Peter. Plá, Jaime A.. Wood, John.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Access by subscription
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Charge-based MOS transistor modeling the EKV model for low-power and RF IC design için kapak resmi
Charge-based MOS transistor modeling the EKV model for low-power and RF IC design
Yazar 
Enz, Christian. Vittoz, Eric A., 1938- Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0470855460
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: