Başlık:
Electronics reliability and measurement technology nondestructive evaluation
Yazar:
Heyman, Joseph S.
ISBN:
9781591240518
9780815511717
9780815516996
Yayın Bilgileri:
Park Ridge, N.J., U.S.A. : Noyes Data Corp., ©1988.
Fiziksel Tanımlama:
1 online resource (xii, 128 pages) : illustrations
Yazar Ek Girişi:
Elektronik Erişim:
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780815511717Kopya:
Rafta:*
Kütüphane | Materyal Türü | Demirbaş Numarası | Yer Numarası | Durumu/İade Tarihi | Materyal Ayırtma |
|---|---|---|---|---|---|
Arıyor... | E-Kitap | 254151-1001 | ONLINE | Arıyor... | Arıyor... |