Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems için kapak resmi
Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems
Yazar 
Ibe, Eishi H., author.
Yer Numarası 
ONLINE(342252.1)
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118479308
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Dependability in Electronic Systems Mitigation of Hardware Failures, Soft Errors, and Electro-Magnetic Disturbances için kapak resmi
Dependability in Electronic Systems Mitigation of Hardware Failures, Soft Errors, and Electro-Magnetic Disturbances
Yazar 
Kanekawa, Nobuyasu. author. Ibe, Eishi H. author. Suga, Takashi. author. Uematsu, Yutaka. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6715-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: