Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Software metrics and software metrology için kapak resmi
Software metrics and software metrology
Yazar 
Abran, Alain, 1949-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6381791
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Applied statistics for software managers için kapak resmi
Applied statistics for software managers
Yazar 
Maxwell, Katrina.
Yer Numarası 
QA 76.76.S65 M39 2002
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya: