Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
8 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Testen von Informationssystemen Integriertes und prozessorientiertes Testen için kapak resmi
Testen von Informationssystemen Integriertes und prozessorientiertes Testen
Yazar 
Pilorget, Lionel. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-8348-8677-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Software-Qualität Testen, Analysieren und Verifizieren von Software için kapak resmi
Software-Qualität Testen, Analysieren und Verifizieren von Software
Yazar 
Liggesmeyer, Peter. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-8274-2203-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Car Multimedia Systeme Modell-basiert testen mit SysML için kapak resmi
Car Multimedia Systeme Modell-basiert testen mit SysML
Yazar 
Alt, Oliver. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-8348-9567-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Handbuch zum Testen von Web-Applikationen Testverfahren, Werkzeuge, Praxistipps için kapak resmi
Handbuch zum Testen von Web-Applikationen Testverfahren, Werkzeuge, Praxistipps
Yazar 
Franz, Klaus. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-68185-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Testen im Sprachunterricht : Handbuch für die Erstellung und den Gebrauch von Leistungstests im Fremdsprachenunterricht için kapak resmi
Testen im Sprachunterricht : Handbuch für die Erstellung und den Gebrauch von Leistungstests im Fremdsprachenunterricht
Yazar 
Lado, Robert, 1915-
Yer Numarası 
PB 71.5 L3 T
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
6. 
VLSI test principles and architectures design for testability için kapak resmi
VLSI test principles and architectures design for testability
Yazar 
Wang, Laung-Terng. Wu, Cheng-Wen, EE Ph. D. Wen, Xiaoqing.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123705976
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Assessing Speaking için kapak resmi
Assessing Speaking
Yazar 
Luoma, Sari.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Access by subscription
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Digital circuit testing a guide to DFT and other techniques için kapak resmi
Digital circuit testing a guide to DFT and other techniques
Yazar 
Wang, Francis C.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780127345802
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: