Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Digital integrated circuits : design-for-test using Simulink and Stateflow için kapak resmi
Digital integrated circuits : design-for-test using Simulink and Stateflow
Yazar 
Perelroyzen, Evgeni.
Yer Numarası 
TK7874 .P445 2007
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
2. 
The VLSI handbook için kapak resmi
The VLSI handbook
Yazar 
Chen, Wai-Kai, 1936-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits için kapak resmi
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
Yazar 
Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- Agrawal, Vishwani D., 1943-
Yer Numarası 
TK7874.75 B87 2000
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Digital circuit testing a guide to DFT and other techniques için kapak resmi
Digital circuit testing a guide to DFT and other techniques
Yazar 
Wang, Francis C.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780127345802
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Digital systems testing and testable design için kapak resmi
Digital systems testing and testable design
Yazar 
Abramovici, Miron. Breuer, Melvin A. Friedman, Arthur D.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5266057
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: