Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
RF and microwave modeling and measurement techniques for field effect transistors için kapak resmi
RF and microwave modeling and measurement techniques for field effect transistors
Yazar 
Gao, Jianjun, 1968- Knovel (Firm)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=571541
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Defects in microelectronic materials and devices için kapak resmi
Defects in microelectronic materials and devices
Yazar 
Fleetwood, Daniel. Pantelides, Sokrates T. Schrimpf, Ronald Donald.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
The RF transmission systems handbook için kapak resmi
The RF transmission systems handbook
Yazar 
Whitaker, Jerry C.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: