Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Digital integrated circuits -- Testing.
(4)
Electronic books.
(4)
Integrated circuits--Testing.
(4)
Application-specific integrated circuits.
(3)
Integrated circuits -- Testing.
(3)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
18 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits için kapak resmi
Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits
Yazar 
Goel, Sandeep K, editor of compilation. Chakrabarty, Krishnendu, editor of compilation.
Yer Numarası 
ONLINE(342881.1)
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
3D IC stacking technology için kapak resmi
3D IC stacking technology
Yazar 
Wu, Banqiu. Kumar, Ajay. Ramaswami, Sesh.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
ESD failure mechanisms and models için kapak resmi
ESD failure mechanisms and models
Yazar 
Voldman, Steven H. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470747254
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10317806
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits The system on chip approach için kapak resmi
Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits The system on chip approach
Yazar 
Yichuang Sun, ed.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBCS019E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
RF measurements for cellular phones and wireless data systems için kapak resmi
RF measurements for cellular phones and wireless data systems
Yazar 
Scott, Allan W. Frobenius, Rex.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5361014
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
System-on-chip test architectures nanometer design for testability için kapak resmi
System-on-chip test architectures nanometer design for testability
Yazar 
Wang, Laung-Terng. Stroud, Charles E. Touba, Nur A.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123739735
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
The VLSI handbook için kapak resmi
The VLSI handbook
Yazar 
Chen, Wai-Kai, 1936-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Digital integrated circuits : design-for-test using Simulink and Stateflow için kapak resmi
Digital integrated circuits : design-for-test using Simulink and Stateflow
Yazar 
Perelroyzen, Evgeni.
Yer Numarası 
TK7874 .P445 2007
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
9. 
VLSI test principles and architectures design for testability için kapak resmi
VLSI test principles and architectures design for testability
Yazar 
Wang, Laung-Terng. Wu, Cheng-Wen, EE Ph. D. Wen, Xiaoqing.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123705976
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits için kapak resmi
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
Yazar 
Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- Agrawal, Vishwani D., 1943-
Yer Numarası 
TK7874.75 B87 2000
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Integrated circuit manufacturability the art of process and design integration için kapak resmi
Integrated circuit manufacturability the art of process and design integration
Yazar 
Pineda de Gyvez, José. Pradhan, Dhiraj K. IEEE Circuits and Systems Society.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5265097
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
VLSI Testing Digital and mixed analogue/digital techniques için kapak resmi
VLSI Testing Digital and mixed analogue/digital techniques
Yazar 
Hurst, Stanley L.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBCS009E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
13. 
Low-power HF Microelectronics A unified approach için kapak resmi
Low-power HF Microelectronics A unified approach
Yazar 
Machado, Gerson A. S., ed.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBCS008E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Principles of semiconductor network testing için kapak resmi
Principles of semiconductor network testing
Yazar 
Afshar, Amir.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750694728
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Algorithmic and Knowledge-based CAD for VLSI için kapak resmi
Algorithmic and Knowledge-based CAD for VLSI
Yazar 
Taylor, Gaynor, ed. Russell, Gordon, ed.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBCS004E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Digital circuit testing a guide to DFT and other techniques için kapak resmi
Digital circuit testing a guide to DFT and other techniques
Yazar 
Wang, Francis C.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780127345802
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Digital systems testing and testable design için kapak resmi
Digital systems testing and testable design
Yazar 
Abramovici, Miron. Breuer, Melvin A. Friedman, Arthur D.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5266057
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
Electronics reliability and measurement technology nondestructive evaluation için kapak resmi
Electronics reliability and measurement technology nondestructive evaluation
Yazar 
Heyman, Joseph S.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780815511717
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: