Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
16 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Diffraction of x-rays by chain molecules için kapak resmi
Diffraction of x-rays by chain molecules
Yazar 
Vainshtein, Boris Konstantinovich.
Yer Numarası 
QC 482.D5 V323 1966
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
2. 
The optical principles of the diffraction of X-rays için kapak resmi
The optical principles of the diffraction of X-rays
Yazar 
James, Reginald William, 1891-
Yer Numarası 
QD 905 J2 1948
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
3. 
X-ray diffraction : modern experimental techniques için kapak resmi
X-ray diffraction : modern experimental techniques
Yazar 
Seeck, Oliver H., 1966- editor. Murphy, Bridget M., 1969- editor.
Yer Numarası 
TA417.25 X73 2015
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
4. 
X-ray diffraction : modern experimental techniques için kapak resmi
X-ray diffraction : modern experimental techniques
Yazar 
Seeck, Oliver H., editor. Murphy, Bridget M., editor.
Yer Numarası 
ONLINE(342857.1)
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Structure from diffraction methods için kapak resmi
Structure from diffraction methods
Yazar 
Bruce, Duncan W., editor. O'Hare, Dermot, editor. Walton, Richard I., editor.
Yer Numarası 
QD461 .S9255 2014
Elektronik Erişim 
http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9781118695708
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Modern diffraction methods için kapak resmi
Modern diffraction methods
Yazar 
Mittemeijer, E. J. Welzel, Udo. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Connect to MyiLibrary resource.
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527649884
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
X-rays and materials için kapak resmi
X-rays and materials
Yazar 
Goudeau, Philippe. Guinebretière, René.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Connect to MyiLibrary resource.
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118562888
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Crystals, x-rays and proteins comprehensive protein crystallography için kapak resmi
Crystals, x-rays and proteins comprehensive protein crystallography
Yazar 
Sherwood, Dennis. Cooper, Jon (Jonathan B.)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Oxford scholarship online http://dx.doi.org/10.1093/acprof:oso/9780199559046.001.0001
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Two-dimensional x-ray diffraction için kapak resmi
Two-dimensional x-ray diffraction
Yazar 
He, Bob B., 1954-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Books24x7 http://www.books24x7.com/marc.asp?bookid=33634
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=469502
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470502648
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10346379
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Principles and applications of powder diffraction için kapak resmi
Principles and applications of powder diffraction
Yazar 
Clearfield, Abraham. Reibenspies, Joseph Henry. Bhuvanesh, Nattamai. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781444305487
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
X-ray diffraction by polycrystalline materials için kapak resmi
X-ray diffraction by polycrystalline materials
Yazar 
Guinebretiere, Rene. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0704/2006037726-b.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470612408
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Basics of x-ray diffraction and its applications /cK. Ramakanth Hebbar. için kapak resmi
Basics of x-ray diffraction and its applications /cK. Ramakanth Hebbar.
Yazar 
Hebbar, K. Ramakanth.
Yer Numarası 
QC482.D5 H43 2007
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
13. 
X-ray metrology in semiconductor manufacturing için kapak resmi
X-ray metrology in semiconductor manufacturing
Yazar 
Bowen, D. Keith (David Keith), 1940- Tanner, B. K. (Brian Keith)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Collection of simulated XRD powder patterns for zeolites için kapak resmi
Collection of simulated XRD powder patterns for zeolites
Yazar 
Treacy, M. M. J. (Michael M. J.) Higgins, John B. Treacy, M. M. J. (Michael M. J.). Collection of simulated XRD powder patterns for zeolites. International Zeolite Association. Structure Commission.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780444507020
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Industrial applications of X-ray diffraction için kapak resmi
Industrial applications of X-ray diffraction
Yazar 
Chung, Frank H., 1930- Smith, Deane K. (Deane Kingsley)
Yer Numarası 
TA417.25 I52 2000
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Introduction to X-ray powder diffractometry için kapak resmi
Introduction to X-ray powder diffractometry
Yazar 
Jenkins, Ron, 1932- Snyder, R. L. (Robert L.), 1941-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
HathiTrust Digital Library, Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/34476835.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118520994
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: