Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices için kapak resmi
Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices
Yazar 
Nato Advanced Study Institute on Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices Villa Tuscolano (1978 : Italy) Zemel, Jay N., ed.
Yer Numarası 
TK 7871.85 N376 1979
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Sensors a comprehensive survey. volume 8, micro- and nanosensor technology/trends in sensor markets için kapak resmi
Sensors a comprehensive survey. volume 8, micro- and nanosensor technology/trends in sensor markets
Yazar 
Göpel, W. Hesse, J. Zemel, Jay N. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527620197
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Sensors a comprehensive survey. Volume 4, thermal sensors için kapak resmi
Sensors a comprehensive survey. Volume 4, thermal sensors
Yazar 
Gopel, W. Hesse, J. Zemel, Jay N. Ricolfi, T. Scholz, J.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527620159
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Sensors a comprehensive survey için kapak resmi
Sensors a comprehensive survey
Yazar 
Göpel, W. Hesse, J. Zemel, Jay N. Grandke, T. (Thomas) Ko, W. H.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527620128
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Sensors a comprehensive survey. volume 5, magnetic sensors için kapak resmi
Sensors a comprehensive survey. volume 5, magnetic sensors
Yazar 
Göpel, W. Hesse, J. Zemel, Jay N. Boll, R. Overshott, K. J.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527620166
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: